Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Анализаторы производственных дефектов (MDA) и внутрисхемные тестеры (ICT) с адаптерами «поле контактов»

Свернуть Развернуть
Модель Compact SL – это встраиваемая в производственную линию тестовая система, предназначенная для ...
Seica
Функциональные возможности:
  • внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Модель Compact TK– это адаптерная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тест...
Seica
Функциональные возможности:
  • Внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Модель TR-17VIP – это комбинированная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового ...
Sovtest (Россия)
Функциональные возможности:
  • внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Анализаторы производственных дефектов применяются для внутрисхемного и функционального контроля смонтированных электронных модулей. При этом сопряжение с модулем выполняться с помощью специализированного адаптера «поле контактов». Т.е.  для каждого типа печатных плат необходим специализированный адаптер. Кроме того изделие должно иметь дополнительные тестовые точки сопряжения.  

Отправить запрос