Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Объективы CFI60-2 для промышленных микроскопов CFI60-2

Nikon

Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON

КЛЮЧЕВЫЕ ОСОБЕННОСТИ
1. Использование линз Френеля1.
Линзы Френеля изготавливаются с использованием собственных оптических технологий фирмы Nikon. Данные линзы позволили уменьшить хроматические аберрации, которые ухудшают контрастность изображения.
    
У объективов значительно увеличилось рабочее расстояние.
• Объективы TU Plan ELWD: рабочее расстояние для объектива с 20-ти кратным увеличением в 1,5 раза больше, чем у других аналогичных продуктов.
• Объективы T Plan SLWD со сверхбольшим рабочим расстоянием: рабочее расстояние для 100-кратного увеличения в 1,5 раза больше, чем у других существующих продуктов.
•Апохроматические объективы TU Plan Apo: рабочее расстояние для объектива с увеличением 100 крат стало в 5 раза больше, чем у аналогичных объективов серии CFI60.

2. Улучшены основные характеристики для объективов стандартного типа.
Для стандартных моделей объективов TU Plan Fluor без линз Френеля (для методов наблюдения: светлого поля, темного поля, дифференциального контраста, поляризации, флуоресценции) были исправлены хроматические аберрации для среднего диапазона увеличения (10х и 20х). Это позволило получить четкое, яркое изображение при сохранении высокой числовой апертуры (NA).

3. Уменьшен вес объективов.
Вес объективов с высоким увеличением (50х, 100х, 150х) уменьшился примерно на 30% по сравнению с существующими моделями. Это позволило сократить время, необходимое для замены объективов, и снизить износ подвижных частей револьвера объективов.

4. Повышена контрастность на сверхнизких увеличениях.
Объективы T Plan EPI со сверхнизким увеличением (1х и 2.5х) предназначены для макронаблюдений, требующих большого поля зрения. В их конструкции использованы пластины  с круговой поляризацией (поляризатор и деполяризатор), необходимые для подавления «световой  вспышки», которая индуцируется при наблюдении образцов с низкой отражающей способностью. Данная «вспышка» также является специфической для объективов со сверхнизким увеличением. Использование поляризационных пластин позволяет получить четкое, яркое изображение, а также устранить потенциальные проблемы, которые могут стать причиной снижения контрастности изображения.1Линзы Френеля, разработанные в Nikon, используют явление дифракции фото.
В отличие от обычного явления преломления формирование изображения в линзах Френеля осуществляется в обратном  порядке: красный (R), зеленый (G), синий (B).
Смежные продукты
image
Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.
Nikon
image
Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.
Nikon
image
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.
Nikon
image
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.
Nikon
image
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.
Nikon
image
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.
Nikon
image
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon
image
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
image
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Стереомикроскоп SMZ1270i
Отправить запрос