Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

EDA Industries

Комплексы для проведения электротермотренировки изделий микроэлектроники в соответствии с требованиями Российских и международных стандартов.

Комплексы могут быть применены как в условиях серийного производства, на этапах изготовления изделий, так и на входном контроле, предприятий, использующих изделия микроэлектроники, а также предприятий, занимающихся сертификационными испытаниями компонентов. Комплекс электротермотренировки может использоваться при проведении испытаний на безотказность (ОСТ 11 073.013 метод 700-1, 700-2.1), на воздействие повышенной температуры рабочей среды (ОСТ 11 073.013 метод 204) а также при испытаниях согласно международным стандартам MIL-STD 883.

Компания предлагает несколько различных вариантов исполнения комплексов отличающихся как количеством и расположением слотов, так и тестовыми возможностями.

Загрузка/выгрузка кассет может осуществляться без участия оператора при помощи пневматической системы.

Модули для задания электрических режимов электротермотренировки устанавливаются в направляющие (слоты) на задней стенке камеры тепла, таким образом, обеспечивается минимальное расстояние от объекта испытаний (микросхем) до задающей части комплекса ЭТТ. Компания EDA предлагает несколько вариантов исполнений задающих модулей (UBTS, DBTS, High Power UBTS, MBTS) позволяющих проводить испытания как цифровых, цифро-аналоговых микросхем, микросхем памяти, так и силовых дискретных компонентов, например транзисторов.

Кроме самих комплексов ЭТТ компания EDA предлагает и вспомогательные системы, которые призваны облегчить работы по отладке и проверке, как тестовых программ, так и кассет. К ним относятся: ETS (engineering test station) – позволяет проверять и отлаживать программы для задания электрических режимов на одной из кассет перед установкой их в камеру тепла, PBTS (pre burn-in test station) – позволяет выполнять параметрические тесты на одной из кассет перед установкой их в камеру тепла.
Наименование модели DA-48 SA-24 DA-24 QA-48
 
Количество слотов (распределение по температурным зонам) 48 (24+24) 24 24 (12+12) 48 (12+12+12+12)
Диапазон температур    +50°…+150° +50°…+150°
-40°….+150°
+50°…+150°
Точность поддержания температуры в объёме ±2°   
Средняя скорость набора температуры 3°/мин
Габаритные размеры 3630 x 2300 x 1760 мм 2110 x 2300 x 1760 мм 2535 x 2350 x 1910 мм 3500 x 2740 x 1800 мм
Вес 2 200 кг 1 200 кг 1 500 кг 2 500 кг
Требования по подключению ~380 В, 50 Гц, 3 ф, сжатый воздух, 6.5 атм.вода 5 м3/час
 
Смежные продукты
image
Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции (от малой до сверхбольшой).
Teradyne
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
image
Микроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие устройства, объединенные с полупроводниковыми приборами и сочетающие характеристики электронных схем и механических компонентов.
Sovtest (Россия)
image
Зондовые установки применяются в производстве микроэлектроники и предназначены для автоматического позиционирования и установки полупроводниковых пластин в держателе для их тестирования пластин с помощью тестеров параметрического и функционального контроля полупроводниковых приборов Sovtest FT17 HF, Teradyne, Verigy и др.
Accretech
image
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники при температурах от минус 60 до плюс 155° С и последующей их сортировкой по результатам тестирования.
image
Тестер микросхем FT-17DT представляет собой настольный вариант тестера FT-17HF (англ.: DT, desk top – настольный), предыдущей разработки специалистов «Совтест АТЕ» в области контроля качества изделий микроэлектроники.
Sovtest (Россия)
Тестеры микросхем для функционального и параметрического контроля ИС и СБИС, Teradyne, США Тестер полупроводниковых компонентов FT-17SC
Отправить запрос