FT-17HF

Основу Комплекса составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал». Подобная архитектура позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и затратах на изготовление измерительной оснастки.

В состав Комплекса может входить до 12-ти универсальных плат, общим количеством выводов до 768-ми, а также специализированные платы для контроля компонентов смешанного сигнала.

Дополнительно к базовым возможностям в системе могут быть реализованы заданные алгоритмы тестирования структур памяти (галоп, марш, шахматы и др.)

Области применения:

• Выходной контроль параметров интегральных микросхем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
• Входной контроль параметров интегральных микросхем на предприятиях-потребителях.
• Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров изделий микроэлектроники.
• Образовательный процесс, изучение принципов работы микроэлектроники и тестового оборудования.

Отличительные особенности:

• Высокая производительность — за счет современной архитектуры «тестер-на-канал» и широких возможностей параллельного контроля.
• Универсальность — контроль как цифровых, так и цифро-аналоговых схем.
• Гибкость — конфигурация тестера может легко изменяться и наращиваться при необходимости.
• Измерительная часть тестера выполнена с применением последних технологий в области компонентой базы.
• Простота создания тестовых последовательностей.
• Простота в эксплуатации и обслуживании.
• Возможность непосредственной стыковки («жёсткая» стыковка) с автоматическими загрузчиками изделий (зондовые установки, проходные камеры и др.).