Стенд FT-17DT-256 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.
Основной аппаратной частью стенда являются универсальные каналы, каждый из которых включает в себя генератор тестовой последовательности, драйвер (источник напряжения), компаратор напряжения, активную нагрузку, источник-измеритель статических параметров.
Кроме универсальных каналов, имеются дополнительные каналы источников-измерителей статических параметров с расширенными диапазонами напряжения и силы тока, и каналы измерительных источников питания.
Отличительные особенности:
Стенд FT-17DT-256 выполнен в настольном исполнении и представляет собой измерительный блок, работающий под управлением внешнего компьютера.
Каналы размещаются на платах канальной электроники, каждая плата содержит 64 универсальных канала, 8 дополнительных каналов источников-измерителей статических параметров и 8 каналов измерительных источников питания. В стенде FT-17DT-256 может быть установлено до 4-х плат канальной электроники.
Стенд позволяет выполнять полное функциональное и параметрическое тестирование с частотой до 200 МГц на канал.
Объекты контроля и измерений:
- цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
- запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
- аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле);
- RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).
Области применения:
- Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
- Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ
- Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.
В 2022 году данный тестер был удостоен высокой оценки профессионального сообщества и его проект завоевал почетную Премию «Саммита дизайн-центров электроники 2022»
Посмотреть весь перечень реализованных тестовых решений вы можете по ссылке
