Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Sovtest (Россия)

Основное назначение тестера микросхем – параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц. Основу Комплекса составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал».

Подобная архитектура тестера микросхем позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и затратах на изготовление измерительной оснастки.
В состав Комплекса может входить до 12-ти  универсальных плат, общим количеством выводов до 768-ми, а также специализированные платы для контроля компонентов смешанного сигнала.
Дополнительно к базовым возможностям в системе могут быть реализованы заданные алгоритмы тестирования структур памяти (галоп, марш, шахматы и др.)

Области применения тестера микросхем:
  • Выходной контроль параметров интегральных микросхем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях
  • Входной контроль параметров интегральных микросхем на предприятиях-потребителях
  • Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров изделий микроэлектроники
  • Образовательный процесс, изучение принципов работы микроэлектроники и тестового оборудования
Отличительные особенности:
  • Высокая производительность – за счет современной архитектуры «тестер-на-канал» и широких возможностей параллельного контроля
  • Универсальность – контроль как цифровых, так и цифро-аналоговых схем
  • Гибкость – конфигурация тестера может легко изменяться и наращиваться при необходимости
  • Измерительная часть тестера выполнена с применением последних технологий в области компонентой базы
  • Простота создания тестовых последовательностей
  • Простота в эксплуатации и обслуживании
Возможность непосредственной стыковки («жёсткая» стыковка) с автоматическими загрузчиками изделий (зондовые установки, проходные камеры и др.)

Технические характеристики:
  • Количеств измерительных каналов: 768 (до 12 плат по 64 канала)
  • Максимальная частота следования тестовых векторов: 400 Mbps
  • Дискретность задания временных параметров: 39 пс
  • Количество временных меток на канал: 4 или 8 (в режиме мультиплексирования)
  • Максимальное рассогласование каналов: ±250 пс (пикосекунд)
  • Глубина памяти тестовых векторов на канал: 128 Мбит (расширение до 256 Мбит)
  • Диапазон задания напряжения: - 2 ... +6 В (или 0… +8 В)
  • Максимальная потребляемая мощность: 4 кВт (киловатт)
  • Система охлаждения: воздушная
  • Сжатый воздух/вакуум для тестера микросхем не требуется
Смежные продукты
image
Комплекс измерительный FT-17M предназначен для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения.
Sovtest (Россия)
image
Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции (от малой до сверхбольшой).
Teradyne
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Система тепловизионного контроля электронных модулей представляет собой комплекс для контроля и последующего анализа теплового поля тестируемого изделия в инфракрасном диапазоне.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Комплексы электротермотренировки ООО «Совтест АТЕ» предназначены для широкого применения как в условиях серийного производства, на этапах изготовления изделий, так и на входном контроле, предприятий использующих изделия микроэлектроники, а также предприятий занимающихся сертификационными испытаниями компонентов.
Sovtest (Россия)
image
Тестер микросхем FT-17DT представляет собой настольный вариант тестера FT-17HF (англ.: DT, desk top – настольный), предыдущей разработки специалистов «Совтест АТЕ» в области контроля качества изделий микроэлектроники.
Sovtest (Россия)
Комплекс измерительный для функционального контроля модулей и компонентов FT-17 Тестеры микросхем для функционального и параметрического контроля ИС и СБИС, Teradyne, США
Отправить запрос