Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Контроль качества пайки ПП

Nikon

Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах

Назначение

Решение предназначено для контроля качества пайки электронных компонентов на печатных платах.

Описание

Основа решения - стереоскопический микроскоп серии SMZ фирмы Nikon (SMZ745T, SMZ800N), в сочетании с наклонно-поворотным столом и/или специальным модулем наклонного наблюдения. В дополнение к превосходным оптическим характеристикам микроскопа предлагается широкий выбор принадлежностей, позволяющий решить любые задачи исходя из требований Заказчика.

Решение позволяет

  • Работать с платами размером до 1 метра длиной и шириной, а также любой формы, за счет использования набора магнитного крепления образца
  • Осуществлять 360° инспекцию без перемещения объекта
  • Обнаруживать различные дефекты паяных соединений
  • Качественно производить ремонтные работыМикроскоп SMZ800 (1) на универсальном штативе (2), в комплекте с модулем наклонного наблюдения (3), наклонным-поворотным столом (4) и системой документирования (5)
Смежные продукты
image
Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.
Nikon
image
Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.
Nikon
image
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.
Nikon
image
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.
Nikon
image
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.
Nikon
image
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.
Nikon
image
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
image
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
image
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON Стереомикроскоп SMZ1270
Отправить запрос