Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

L200 микроскоп для контроля качества пластин

Nikon

В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.

Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек. 

Выбор из 3-х моделей

L200: Контроль качества 200 мм пластин и фотошаблонов для обнаружения дефектов в отраженном свете.
L200ND: Автоматизированная версия модели L200. Часто используемые операции, такие как настройка апертуры, фокусировка, смена режима наблюдения светлое/темное поле, вращение револьвера объективов, регулировка интенсивности освещения и настройка ДИК, моторизованы, и управление ими может осуществляться с помощью дистанционного управления или с ПК.
L200A: Самая передовая модель. Обладает также возможностью наблюдений в проходящем свете, что идеально подходит для задач контроля качества ЖК-панелей и фотошаблонов.

Предотвращение загрязнения

На корпус данных микроскопов нанесено специальное антистатическое покрытие, чтобы предотвратить попадание на микроскоп посторонних частиц. Кроме того, в моторизованном револьвере объективов используется расположенный по центру экранированный мотор, который удерживает посторонние частицы внутри и предотвращает их попадание на образец.

Высокоинтенсивный свет галогенных ламп

Высокоинтенсивный осветитель с галогенной лампой 12 В 50 Вт (LV-LH50PC) обеспечивает более высокую яркость, чем осветитель с галогенной лампой 12 В 100 Вт, потребляя при этом в два раза меньше энергии. В этом новом ламповом блоке установлено заднее зеркало, а размер нити накаливания оптимизирован, за счет чего обеспечивается важнейшее для оптических систем качество - эффективное и равномерное освещение плоскости зрачка.

Усовершенствованная микроскопия ДИК

Объективы CFI LU Plan от компании Nikon позволяют использовать множество методов наблюдения, включая методы светлого поля, темного поля и Номарски ДИК, при помощи одной револьверной головки микроскопа. Для наблюдения по методу ДИК просто вставьте единую призму Номарского в револьверную головку микроскопа, работающую во всех диапазонах увеличения.    
 

Конструкция, соответствующая стандартам SEMI S2-0200, S8-0600

Конструкция соответствует стандарту SEMI; механизмы управления и кнопки расположены снизу, близко к оператору, в то время как выходной зрачок расположен на оптимальной для удобства работы высоте. Благодаря удобному расположению элементов управления на передней части микроскопа движение рук сведено к минимуму, что позволяет оператору сконцентрироваться на процессе контроля качества. Окуляр приближен к оператору, так что он может принять более прямую сидячую позу. Благодаря этому оператор также располагается дальше от предметного столика, что обеспечивает более эргономичное и безопасное положение наблюдения.

Наклоняемый окулярный тубус

Тринокулярный наклоняемый тубус позволяет постоянно регулировать угол наклона от 0° до 30° , чтобы обеспечить оптимальное положение выходного зрачка. Данный окуляр также обладает сверхшироким полем зрения 25 мм.    

Фиксированная позиция ручки перемещения столика по осям X-Y

Механизмы управления для точного перемещения по осям X-Y остаются в одном и том же положении близко к передней части, что обеспечивает оптимальное положение глаз и удобную рабочую позу оператора независимо от положения предметного столика. Кроме того, эти элементы управления, а также рукоятка фокусировка расположены близко друг к другу, поэтому вы можете осуществлять управление одной рукой.

Моторизованный револьвер объективов с программным управлением

Микроскоп Eclipse L200A оснащен встроенным моторизованным револьвером объективов, который обладает слотом для ДИК-насадки. Кроме механического механизма click-stop данный револьвер может управляться программными средствами, чтобы останавливаться точно в положении каждого объектива. Усовершенствованная точность также значительно увеличивает долговечность револьвера. Кроме того, при вращении револьвера освещение на мгновение выключается, чтобы защитить глаза оператора.    

Оптическая система CFI60  

Обеспечивает потрясающе четкие, контрастные изображения с более длинными рабочими расстояниями, высокими числовыми апертурами и минимумом засветок. Отношения сигнал/шум во время наблюдений по методу темного поля в три раза лучше, чем ранее, что позволяет получить выдающиеся высококонтрастные изображения, идеальные для высокоточных наблюдений.   
Смежные продукты
image
Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.
Nikon
image
Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.
Nikon
image
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.
Nikon
image
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.
Nikon
image
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.
Nikon
image
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
image
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon
image
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
image
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Прямые промышленные микроскопы серии LV150 Микроскопы для контроля качества пластин серии L300
Отправить запрос