Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

L300 микроскоп для контроля качества пластин

Nikon

Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.

В микроскопах для контроля качества пластин серии L300 используется знаменитая оптическая система CFI60 от Nikon, которая обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания. Яркость изображений была значительно улучшена по сравнению с традиционными микроскопами, благодаря чему данная серия подходит для различных задач контроля качества.

Выбор из 2-х моделей
L300: Эпископическое освещение
Максимальный размер образца: 300 мм пластины
Диапазон перемещения предметного столика: 354 х 302 мм
Диапазон увеличений: 15х – 1000х (в зависимости от окуляра и объектива)
L300D: Диаскопическое/эпископическое освещение
Максимальный размер образца: 17-дюймовая плоская панель
Диапазон перемещения предметного столика: 354х302 мм (при диаскопическом освещении: 354 х 268 мм)
Диапазон увеличений: 15х – 1000х (в зависимости от окуляра и объектива)    

Наблюдение по методу темного поля
Новая оптика с освещением по методу темного поля значительно увеличивает яркость изображений и улучшает возможность обнаружений мельчайших царапин и дефектов рельефа образца.    

Наблюдение по методу светлого поля
Система CFI60 от Nikon – удачное сочетание оптической системы CF и «бесконечной» оптики – является залогом получения ярких, высококонтрастных изображений.
    
Наблюдение по методу Номарски ДИК
В модели L300/300D используется система с одной призмой (призмой Сенармона), которая позволяет проводить наблюдения по методу ДИК при любом увеличении путем простой вставки одной призмы Номарского в револьвер объективов. ДИК-изображения являются четкими и чистыми с минимальными цветовыми оттенками даже при низком увеличении. Высококонтрастный ДИК-слайдер обеспечивает возможность формирования ДИК-изображений с большей чувствительностью.    
Совместимая со стандартом SEMI конструкция
Модель L300/L300D соответствует нормам стандарта Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI) в отношении безопасности (S7-0703) и эргономичности (S8-1103). При приближении окуляра к оператору предметный столик не касается оператора даже при приближении к нему, что обеспечивает безопасность и удобство наблюдения.    

Более надежная защита от статического электричества
На корпус, предметный столик, окуляр (типа L2-TT2) и различные элементы управления нанесены специальные антистатические покрытия. За счет этого увеличивается защита от загрязнений и устраняется риск повреждений образца за счет статического электричества, что увеличивает производительность.

Фиксированная позиция ручки перемещения столика по осям X-Y
Элементы управления для точного перемещения по оси X-Y остаются в одном и том же положении близко к оператору, благодаря чему он не должен двигать рукой, чтобы переместить предметный столик. Так как перемещение образца и фокусировка могут выполняться одной рукой, которая расположена на столе, оператор может сконцентрироваться непосредственно на наблюдении.

Удобное расположение элементов управления
Все основные ручки и кнопки управления расположены на передней части базы, что ускоряет и упрощает работу по просмотру образцов и сводит к минимуму уровень усталости во время долгих наблюдений.    Целевой объект для легкой фокусировки    
Целевой объект легко вводится в оптический путь и выводится из него, что позволяет легко осуществлять фокусировку при работе с низкоконтрастными образцами, такими как бескорпусные пластины.

Длинные рабочие расстояния и высокие числовые апертуры    
Благодаря парфокальному расстоянию 60 мм новая серия микроскопов обладает более длинными рабочими расстояниями и высокими числовыми апертурами. Оптика CFI60 обеспечивает как отличную яркость изображений, так и простоту в работе. Кроме того, оптическая центровка была усовершенствована для минимизации смещений изображений, которые могут произойти при смене увеличения объектива.    

Наклоняемый тринокулярный тубус    
Наклоняемый тринокулярный тубус отличается сверхшироким полем зрения 25 мм. Угол выходного зрачка можно установить между 0° и 30°, что позволяет пользователям настроить оптимальное положение выходного зрачка и обеспечить удобство наблюдения. В наличии имеется два типа тубусов с различными коэффициентами распределения светового потока для наблюдения/фотопорта: L2-TT2 (100:0 / 20:80) и L2-TT (100:0 / 0:100).    

Высокий контраст и минимум засветок    
Для минимизации засветок Nikon использовал специальные покрытия объективов и сконструировал их поверхности таким образом, чтобы предотвратить паразитную засветку. Nikon также снизил вероятность засветок, уменьшив отражение внутри окулярного тубуса, за счет чего был достигнут невозможный ранее высочайший контраст.    

Оптическая система CFI60    
В моделях серии L300 используется оптическая система CFI60 – сочетание знаменитой конструкции CF от Nikon и великолепных характеристик «бесконечной» оптики. CFI60 обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания, а также обладает самым высоким в мире уровнем оптического качества. Яркость изображений была значительно улучшена по сравнению с традиционными микроскопами, благодаря чему данная новая серия подходит для различных задач контроля качества.    

Универсальный моторизованный револьвер объективов    
Встроенный револьвер объективов является моторизованным шестиместным револьвером с тремя центрируемыми слотами. Смещения изображений, которые происходят во время смены увеличения, можно минимизировать благодаря использованию объективов с улучшенной центровкой и револьвера объективов с функцией центровки. Освещение на мгновение выключается, чтобы защитить глаза оператора при вращении револьвера.   
Смежные продукты
image
Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.
Nikon
image
Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.
Nikon
image
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.
Nikon
image
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.
Nikon
image
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.
Nikon
image
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
image
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon
image
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
image
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Микроскопы для контроля качества пластин серии L200 Новые стереомикроскопы SMZ25/18
Отправить запрос