Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Nikon

Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.

Новый растровый (сканирующий) электронный микроскоп - продукт совместной разработки двух хорошо известных производственных корпораций из Японии, а именно, известнейшего производителя оптических приборов Nikon и флагмана в электронной микроскопии - компании Jeol. За оригинальным дизайном микроскопа в настольном исполнении и при небольшом его весе скрывается мощный прибор, покрывающий диапазон увеличения - от х10 до х60 000. Опционально предусмотрено использование с микроскопом ЭДС спектрометра для выполнения элементного анализа. В стандартной комплектации микроскоп оснащен детекторами вторичных и отраженных электронов и способен работать в режимах высокого и низкого вакуума.

Высокое разрешение и большая глубина фокуса

Экономичный настольный электронный микроскоп NeoScope расширяет область применения оптических микроскопов в вашей лаборатории, сдвигая видимые границы в область более высокого, чем у оптики разрешения, при значительной глубине фокуса. Когда нужно сосредоточить внимание на деталях, в принципе не достижимых для оптических микроскопов, в силу принципиальных ограничений накладываемых волновой природой света, NeoScope приведет вас на территорию новых возможностей. 

Поразительная простота использования, вы получите изображение через несколько минут

Вы сможете самостоятельно работать на этом микроскопе уже через 30 минут после его установки в лаборатории. Проводить наблюдения и получать фотографии очень просто благодаря продуманному пользовательскому интерфейсу и автоматизированным предустановленным наборам параметров для анализа различных материалов и биологических объектов.  Для того чтобы получить изображение с впечатляющей фокусировкой и глубиной резкости достаточно менее трех минут после загрузки образца в камеру.

Простота управления микроскопом делает возможным эффективное его использование операторами с любым уровнем подготовки. Столик микроскопа позволяет не только перемещать образец по осям X и Y, но и наклонять или поворачивать его в камере микроскопа.
 

Откачка камеры занимает не более трех минут и начинается сразу же после помещения в нее образца и закрытии дверцы камеры. Включение режима низкого вакуума происходит кнопкой, вынесенной на переднюю панель микроскопа.

Позволяет видеть тонкости, не будучи экспертом в электронной микроскопии

Базовые операции на NeoScope автоматизированы: это авто фокус, авто контраст и яркость, такие же как на вашем фотоаппарате. Для желающих имеются и ручные регулировки. Режим низкого вакуума позволяет исследовать все образцы без напыления. Для исследования широкого ряда образцов имеются многочисленные предустановленные параметры.
 

Пригоден для широкого спектра образцов

Микроскоп может работать в режимах высокого и низкого вакуума, оснащен детекторами вторичных и обратно рассеянных электронов. Выбирая подходящее ускоряющее напряжение, NeoScope позволяет исследовать как биологические объекты, так и самые разнообразные материалы. Оператору очень легко получить контрастные, четкие изображения дефектов поверхностей, инородных примесей, беспозвоночных, биологических тканей, криминалистический доказательный материал, без специальной пробоподготовки, напыления или высушивания.
 

Дополнительные аксессуары

Моторизированный привод для наклона и вращения образца

Эта популярная моторизованная опция для наклона и вращения образца позволяет перемещать образец для получения хорошо сфокусированных 3D изображений.

Элементный анализ

Для элементного анализа используется энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (EDS) собственной разработки компании JEOL.

Технические характеристики

Увеличение

детектирование вторичных электронов:10 - 60,000x

детектирование обратно-рассеянных электронов:10 - 30,000x

Режимы работы

режим высокого вакуума /режим низкого вакуума

Электронная пушка

небольшая пушка с встроенным катодом и венельтом

Ускоряющее напряжение

детектирование вторичных электронов: 3 стадии, 15 кВ/10 кВ/5 кВ

детектирование обратно-рассеянных электронов: 2 стадии, 15 кВ/10 кВ

Диапазон перемещения по осям

ручное перемещения по осям X-Y; X: 35 мм; Y: 35 мм

Максимальный размер образца

диаметр 70 мм, высота 50 мм

Рабочее расстояние по Z (WD)

от 7 до 53 мм

Детектор сигнала

режим высокого вакуума (SE детектор, BSE детектор)

режим низкого вакуума (BSE детектор)

Отображаемые характеристики

ускоряющее напряжение, увеличение, шкала, размеры в мкм и др.

Формат файла изображения

BMP, TIFF, JPEG

Разрешение изображения

640x480 пикселей, 1280x960 пикселей

Режимы фотографирования

высокая скорость, низкая скорость 1, низкая скорость 2

Поворот

поворот растра (с шагом 90° или с шагом 1°)

Сдвиг изображения

управление сдвигом изображения

Сохранение изображения

автоматическое сохранение и нумерация сканированных изображений

Операционная система

Windows 7

Автоматизированные функции

автофокус, автостигматор, выравнивание 

автоконтрастность/яркость

автоматическая настройка положения осей

Модули микроскопа

базовый блок, блок питания, PC, LCD, форвакуумный насос

Управление

сенсорная панель,мышь

Дополнительные аксессуары

моторизованная камера наклона/вращения образца

энергодисперсионный рентгеновский спектрометр (ЭДС)

Размеры

325x490x430 мм

Питание

однофазное, AC 100V (700VA), 220V (880 VA), 240V (960VA)

отклонение ±10%, требуется заземление

Температура

от 15°C до 30°C

Влажность

не более 60%

Смежные продукты
image
Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.
Nikon
image
Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.
Nikon
image
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.
Nikon
image
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.
Nikon
image
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.
Nikon
image
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.
Nikon
image
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
image
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon
image
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
Стереомикроскоп SMZ1270i Цифровой микроскоп высокого разрешения Inspectis C12
Отправить запрос