Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Стенд измерительные для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17MINI

Sovtest (Россия)

Стенд FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.

Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.

Модификации стендов FT-17 MINI унифицированы по используемой элементной базе, программному обеспечению и интерфейсу управления. Они отличаются по количеству измерительных каналов

Объекты контроля и измерений:
  • цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
  • запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
  • RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).

Отличительные особенности:
Модификация стенда FT-17MINI содержит фиксированное количество измерительных каналов. Содержит 64 универсальных канала, 8 дополнительных каналов источников-измерителей статических параметров и 4 канала измерительных источников питания.

Области применения:
  • Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
  • Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ
  • Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.

Смежные продукты
image
Стенд FT-17HF предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17DT предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) при разработке, производстве и испытаниях изделий электронной техники.
Teradyne
image
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
image
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17DT Тестер полупроводниковых компонентов FT-17SC
Отправить запрос