Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17DT

Sovtest (Россия)

Стенд FT-17DT предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.

Стенд FT-17DT представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов напряжения и тока, или сравнении выходных сигналов с заданными (ожидаемыми) сигналами.
Основной аппаратной частью стенда являются универсальные каналы, каждый из которых включает в себя генератор тестовой последовательности, драйвер (источник напряжения), компаратор напряжения, активную нагрузку, источник-измеритель статических параметров.
 
Кроме универсальных каналов, имеются дополнительные каналы источников-измерителей статических параметров с расширенными диапазонами напряжения и силы тока, и каналы измерительных источников питания.

Отличительные особенности:

Стенд FT-17DT выполнен в настольном исполнении и представляет собой измерительный блок, работающий под управлением внешнего компьютера.
Каналы размещаются на платах канальной электроники, каждая плата содержит 64 универсальных канала, 8 дополнительных каналов источников-измерителей статических параметров и 8 каналов измерительных источников питания. В стенде FT-17DT может быть установлено до 4-х плат канальной электроники.
Стенд позволяет выполнять полное функциональное и параметрическое тестирование  с частотой до 200 МГц  на канал.
Объекты контроля и измерений:
  • цифровые ИС произвольной логики (ПЛИС, микропроцессоры, микроконтроллеры, ИС стандартной логики и т.п.);
  • запоминающие устройства (ОЗУ, ПЗУ различных типов);
  • аналого-цифровые ИС (АЦП, ЦАП, системы на кристалле);
  • RFID (радиочастотные метки, смарт-карты).

Области применения:

Выходной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
Входной контроль параметров микроэлектронных компонентов и систем на предприятиях-потребителях ЭКБ
Научно-исследовательские работы, контроль граничных параметров микроэлектронных компонентов и систем, сертификационные испытания.



Смежные продукты
image
Стенд FT-17HF предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) при разработке, производстве и испытаниях изделий электронной техники.
Teradyne
image
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
image
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17HF Стенд измерительные для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17MINI
Отправить запрос