Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Тестеры функционального контроля

Свернуть Развернуть
FT-17RE – это универсальный тестер, разработанный специально для обратного проектирования электронны...
Цели
В условиях производства современной радиоэлектроники и в других секторах промышленности, например, в машиностроении используется широкий спектр технологического оборудования (фрезеровальное, токарное, сверлильное, установщики компонентов, установки...
Стенды электротермотренировки ООО «Совтест АТЕ» предназначены для широкого применения как в условиях...
Стенд электротермотренировки FTT-17 может использоваться при проведении испытаний на безотказность (ОСТ 11 073.013 метод 700-1, 700-2.1), а так же испытаний при воздействии повышенной рабочей температуры рабочей среды (ОСТ 11 073.013 метод 204). Комплекс...
Комплекс предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (д...
Область применения – входной и выходной контроль полупроводниковых компонентов.Производитель –  ООО «Совтест-АТЕ». 
Диапазоны токов и напряжений, которые подаёт и измеряет тестер в базовой комплектации
  • 2.0нA – 50A для токов
  • 10мВ – 1000В...
Многофункциональный тестер реле FT-17R предназначен для измерения параметров электромагнитных реле п...

Данное оборудование имеет широкую область применения. Его можно использовать для контроля параметров выпускаемой продукции на предприятиях-изготовителях электромагнитных реле, для входного контроля параметров реле на предприятии-потребителе...

Тестер светодиодов FT-17LED представляет собой комплекс средств измерений как электрических, так и о...

В качестве измерителей электрических параметров используется серийно выпускаемый ООО «Совтест АТЕ» комплекс измерительный FT-17, для контроля фото- и радиометрических параметров — оборудование компании INSTRUMENTS SYSTEM, Германия. ...

Основное назначение комплекса — параметрический, динамический и функциональный контроль цифровых и ц...

Основу Комплекса составляет набор универсальных плат, выполненных по технологии «тестер-на-канал». Подобная архитектура позволяет получить максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и затратах на изготовление...

Отправить запрос