- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Стенд измерительный FT-17HF-768 предназначен для параметри...
Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая...
Стенд измерительный FT-17MINI-9U предназначен для контроля ...
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который...
Стенд измерительный FT-17MINI предназначен для контроля и ...
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который...
Совтест разрабатывает и производит Тестеры цифровых микросхем.
Тестер микросхем предназначен для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции. Начиная от микроконтроллеров до ASIC (специализированные микросхемы), включая микросхемы памяти, ЦАП, АЦП, а так же смарт-карты, RFID и т.д.
Формула успеха тестеров микросхем Совтест - это платформа, позволяющая расширять (наращивать) измерительные возможности тестера и видоизменять его при появлении новых потребностей пользователя к контролю компонентов.
Отличительной особенность тестеров микросхем является отсутствие каких-либо форм мультиплексирования измерителя, как это реализовано в тестерах микросхем других производителей. Формула проста: канал тестера представляет собой отдельное от других каналов измерительное устройство (pin-электроника или измеритель-на-канал), позволяющее в режиме реального времени менять настройки и контролировать параметры на каждом выводе тестируемой микросхемы. Как говорится в старой политической формуле: «Разделяй и властвуй».