- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Перечень реализованных тестовых решений для тестеров микросхем
линейки FT-17DT/HF производства «ООО Совтест АТЕ, Россия»
линейки FT-17DT/HF производства «ООО Совтест АТЕ, Россия»
Предприятие «Совтест АТЕ» предлагает своим Заказчикам обширный перечень уже реализованных тестовых решений. Это позволяет в кратчайшие сроки и с минимальными затратами решить задачи тестирования микросхем. Даже если Вашей конкретной микросхемы нет в списке, но она функционально идентична с одной из них – разработка и поставка аналогичного тестового решения занимает минимум времени и ресурсов.
$APPLICATION->IncludeComponent(
"bitrix:photogallery",
".default",
Array(
"SHOW_LINK_ON_MAIN_PAGE" => array(0=>"rating",),
"USE_LIGHT_VIEW" => "Y",
"SEF_MODE" => "N",
"IBLOCK_TYPE" => "content",
"IBLOCK_ID" => "49",
"SECTION_SORT_BY" => "ID",
"SECTION_SORT_ORD" => "DESC",
"ELEMENT_SORT_FIELD" => "sort",
"ELEMENT_SORT_ORDER" => "desc",
"PATH_TO_USER" => "",
"SECTION_PAGE_ELEMENTS" => "1",
"ELEMENTS_PAGE_ELEMENTS" => "50",
"PAGE_NAVIGATION_TEMPLATE" => "",
"ALBUM_PHOTO_SIZE" => "400",
"THUMBNAIL_SIZE" => "100",
"JPEG_QUALITY1" => "100",
"ORIGINAL_SIZE" => "1280",
"JPEG_QUALITY" => "100",
"ADDITIONAL_SIGHTS" => array(),
"PHOTO_LIST_MODE" => "Y",
"SHOWN_ITEMS_COUNT" => "10",
"SHOW_NAVIGATION" => "N",
"DATE_TIME_FORMAT_DETAIL" => "d.m.Y",
"DATE_TIME_FORMAT_SECTION" => "d.m.Y",
"SET_TITLE" => "N",
"CACHE_TYPE" => "A",
"CACHE_TIME" => "3600",
"USE_RATING" => "N",
"SHOW_TAGS" => "N",
"DRAG_SORT" => "Y",
"UPLOAD_MAX_FILE_SIZE" => "128",
"USE_WATERMARK" => "Y",
"WATERMARK_RULES" => "USER",
"PATH_TO_FONT" => "default.ttf",
"WATERMARK_MIN_PICTURE_SIZE" => "800",
"USE_COMMENTS" => "N",
"COMPONENT_TEMPLATE" => ".default",
"VARIABLE_ALIASES" => Array(
"SECTION_ID" => "SECTION_ID",
"ELEMENT_ID" => "ELEMENT_ID",
"PAGE_NAME" => "PAGE_NAME",
"ACTION" => "ACTION"
)
)
);?>
В Тестовое решение входят:
- Оснастка с контактными устройствами для подключения одной или нескольких микросхем
- Программа тестирования в соответствии с требованиями Заказчика
- Паспорт и руководство пользователя на русском языке
|
|
|
|
|
Мы используем куки для улучшения работы этого сайта
Продолжая просмотр сайта, вы соглашаетесь с политикой обработки персональных данных и cookie-файлов
