Функциональные возможности
- Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
- Внутрисхемное цифровое тестирование: контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности. Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние).
Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы - 1536 (с шагом, кратным 64). Система может работать с пиновыми адаптерными устройствами типа «ложе гвоздей» (bed-of-nails) различных конструкций - механическими, пневматическими и вакуумными.
В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, генераторов частоты, программируемых резистивных нагрузок, счетчика импульсов, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.
Для функционального тестирования, к тестовой системе, через дополнительный модуль IEEE 488, можно подключить внешние приборы, обеспечивающие наибольшую точность измерений – блоки питания, генераторы, частотомеры, осциллографы, мультиметры и другие. Это позволяет объединить их в единый программно-аппаратный комплекс.
Поставляемое с системой внутрсхемного тестирования TR-17VIP программное обеспечение VIVA работает под управлением операционных систем Windows 7 или Windows XP.
Специализированное программное обеспечение тестера имеет модульную структуру и включает в себя:
- генератор тестовых программ и библиотек для аналогового внутрисхемного тестирования,
- генератор тестовых программ для тестирования КЗ/обрывов,
- модули DGT и DIG для внутрисхемного цифрового тестирования, включая набор библиотек компонентов,
- модуль функционального программирования,
- модуль накопления и обработки статистики,
- модуль самодиагностики,
- трансляторы из систем САПР и т.д.
