Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Оптические микроскопы

Свернуть Развернуть
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры выс...
  • визуальная инспекция
  • контроль качества (электронных модулей, фотошаблонов, обработки металлов и т.п.)
  • диагностические и ремонтные работы
  • монтаж микрокомпонентов
  • криминалистический анализ
  • ...
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
Новый растровый (сканирующий) электронный микроскоп - продукт совместной разработки двух хорошо известных производственных корпораций из Японии, а именно, известнейшего производителя оптических приборов Nikon и флагмана в электронной микроскопии - компании...
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держател...
Nikon
Основные характеристики стереомикроскопа SMZ1270i

Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), микроскоп SMZ1270i отличается еще большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. При минимальном увеличении поле...
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптически...
Nikon
Основные характеристики

Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), стереомикроскоп SMZ1270 отличается еще большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. При минимальном увеличении поле зрения доходит до 35...
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon

Назначение

Решение предназначено для контроля качества пайки электронных компонентов на печатных платах.

Описание

Основа решения - стереоскопический микроскоп серии SMZ фирмы Nikon (SMZ745T, SMZ800N), в сочетании с наклонно-поворотным столом...
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
КЛЮЧЕВЫЕ ОСОБЕННОСТИ
1. Использование линз Френеля1.
Линзы Френеля изготавливаются с использованием собственных оптических технологий фирмы Nikon. Данные линзы позволили уменьшить хроматические аберрации, которые ухудшают контрастность изображения....
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения ба...
Nikon
SMZ 25 и 18 произвели настоящую революцию в области стереомикроскопии, благодаря уникальному диапазону трансфокации, модульной конструкции, удобству эксплуатации и сверхпроизводительной оптике. Новые модели серии SMZ обладают широким набором функций,...
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соо...
Nikon
В микроскопах для контроля качества пластин серии L300 используется знаменитая оптическая система CFI60 от Nikon, которая обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания. Яркость изображений была значительно улучшена по сравнению ...
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный ми...
Nikon
Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек. 

Выбор из 3-х моделей

...
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclips...
Nikon
Прямые промышленные микроскопы  серии LV150 обеспечивают превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества...
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учето...
Nikon
В модели МА200 используется интегрированная система искусственного интеллекта для автоматического комбинирования полученных изображений с данными о настройках наблюдения, что обеспечивает еще более всестороннее документирование. Кроме того, новый кубический...
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материало...
Nikon
Компактные размеры делают этот инвертированный металлографический  микроскоп великолепным прибором с непревзойденными оптическими характеристиками, который идеально подходит для поточного контроля при производстве и сборке изделий, предъявляющих исключительные...

Оптические микроскопы

Одним из важнейших контрольно-измерительных инструментов на любом производстве является оптический микроскоп. Сегодня существует несколько видов микроскопов, которые различаются по принципу работы. Каждый имеет свои достоинства и сферы применения. 

Промышленный прямой микроскоп
Используется для работы с помощью разных методов наблюдения (при отраженном и проходящем свете).  Данный оптический микроскоп имеет высокую производительность, отвечает самым высоким требованиям наблюдения и контроля, применяется для анализа в самых разных областях промышленности.

Стереомикроскоп
Используется для того, чтобы получить трехмерное изображение. Это бывает необходимо для понимания структуры образца. Оптический микроскоп этого типа обычно используется для биологических исследований и для решения задач промышленной сборки.

Цифровой микроскоп
Оснащен цифровой камерой и встроенной подсветкой. Позволяет получать изображение высокого разрешения с увеличением до 400 крат. Оно сразу появляется на экране, где оператор может уже проводить анализ или необходимые измерения. Цифровой оптический микроскоп может работать как от сети, так и на батарейках (некоторые модели). 

Металлографический микроскоп
Используется для исследований структуры сплавов, образцов из металла (или других непрозрачных материалов). Этот оптический микроскоп применяется в аэрокосмической, автомобильной, электронной, медицинской и других областях производства. Часто имеет инвертированную оптическую систему, позволяющую вести наблюдения снизу.

Электронный микроскоп
Получает изображение с помощью потока электронов и магнитных или электростатических линз. Позволяет получать сильно увеличенные объекты. Разрешающая способность электронного микроскопа в 1000 – 10000 раз выше, чем у оптического.

Система машинного зрения
Используется для обнаружения различных дефектов. Это могут быть отклонения от геометрических параметров, неправильная маркировка, нечитаемость штрих- и QR- кодов, отсутствие компонента в сборке или его неправильное размещение.

Сегодня микроскоп, неважно оптический, электронный, цифровой или другой – это неотъемлемая часть большинства исследований. Благодаря его возможности в десятки раз увеличивать изображение объекта, мы получаем возможность детально изучить поверхность этого объекта и сделать выводы о нем. Без этого был бы невозможен качественный скачок во многих областях промышленности.

Отправить запрос