Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Рентгеноскопическая система XT V 160 NF

Nikon Metrology

Рентгеноскопическая система XT V 160 NF – высокоточная рентгеноскопическая система, предназначенная для анализа дефектов полупроводниковых пластин следующего поколения, полупроводниковых устройств и инспекции собранных печатных плат. Минимальный распознаваемый элемент ниже 0,1 мкм

Рентгеноскопическая система XT V 160 NF - система высокой производительности  предоставляет передовые и инновационные функциональные возможности, способные проверять самые сложные электронные компоненты и сборки. Нанофокусная рентген-трубка с наноразмерным фокальным пятном, высокоточный манипулятор и 3 МПикс высокодинамичный  плоскопанельный детектор позволяют распознавать объекты меньше 0,1 мкм.

Рентгеноскопическая система XT V 160 NF располагает уникальной возможностью непрерывного поворота оси детектора на 360°, которая позволяет проводить исследования объекта под углом наклона до 60° в центре панели детектора. Эта система позволяет  сохранять области интереса  (ROI) при смене увеличения или угла обзора.

Широкий 580х580 мм поддон для загрузки образцов позволяет производить инспекции больших собранных печатных плат, мультизаготовок или паллет в сочетании с передовыми автоматизированными программными возможностями.  

Благодаря высокой точности  и системе виброустойчивости образца, NF-система готова к методам ламинографической инспекции.

Новая версия программного обеспечения Inspect-X для интуитивного и продуктивного рентген  исследования электронных компонентов
Рентгеноскопическая система XT V 160 NF оснащена ПО Insect-X версии 4. Inspect-X 4 облегчает инспекцию в режиме реального времени, а так же создание автоматизированных программ. Производительность увеличивается за счет интуитивного интерфейса оператора, быстрого создания инспекционных программ и более надежного алгоритма инспекции.

Рентгеноскопическая система XT V 160 NF подходит для широкого ряда приложений инспекции электроники:
  • контроль TSV (Trough Silicon Via),
  • обнаружение «холодной пайки»  в выводах и микро-бампах, анализ пустот,
  • дефекты в компонентах поверхностного монтажа (SMD) такие, как пустоты в выводах BGA, измерения размеров, короткие замыкания, обрывы и дефект «голова-на-подушке» -  легче обнаруживаются из-за превосходного качества обработки изображения,
  • продвинутый анализ проводников в микросхемах, система автоматизированного обнаружения дефектных проводников и измерения провисания с анализом отклонений - анализ всех проводников микросхемы происходит за один цикл инспекции.
Технические характеристики:
  • Напряжение трубки, кВ: 30-160
  • Максимальный ток пучка, мкА: 600
  • Максимальная мощность трубки, В: 20
  • Минимальный распознаваемый элемент: 0,1 мкм
  • Геометрическое увеличение, крат: 2400
  • Детектор, плоскопанельный: 3 МПикс (1944х 1536), размер пикселя: 75 мкм, 26 кадр/сек
  • Область инспектирования, мм: 510х510
  • Максимальный размер образца, мм: 580х580
  • Максимальный угол наклона: 60°
  • Габаритные размеры (ШхГхВ, мм): 1819х1728х1998
  • Виброизоляция: антивибрационные крепления (стандарт)
  • Монитор: один монитор 30” или два 22”
  • Рентген безопасность: <1 мкЗв/час
  •  
Смежные продукты
image
Данные проекторы оснащены экраном с диаметром 12, 20 или 24 дюймов, прецизионными измерительными столиками и специальными проекционными объективами.
Nikon
image
MM400/800 – это новая серия микроскопов, разработанная для промышленных измерений и анализа изображений. Они интегрируют важнейшие функции и дают полный цифровой контроль за максимальной точностью измерений для самых сложных промышленных задач.
Nikon
image
iNEXIV VMA-2520 - это новая измерительная система с несколькими датчиками, достаточно легкая и компактная для использования в заводских условиях на рабочей поверхности, быстрая, полностью автоматическая и высокоточная, что делает ее идеальным решением для широкого ряда вариантов применения в сфере промышленных измерений и контроля качества.
Nikon
image
Система VMA-4540V/4540 предназначена для выполнения высокоточных измерений самых разнообразных объектов.
Nikon
image
Рентгеноскопическая система XT V 160 имеет отличное разрешение при высоком увеличении. В ней используется открытая рентгеновская трубка NanoTechTM с оптимальным разрешением - 500 нм, при этом ее максимальное геометрическое увеличение достигает 2 400Х (системное – до 36 000Х).
Nikon Metrology
image
Рентгеноскопическая система XT V 130C имеет оптимальное соотношение цены и качества. Открытая трубка с генератором без высоковольтного кабеля, доступные по цене катоды, компактный эргономичный дизайн и относительно низкий вес самой системы (нет специальных требований к помещению) обуславливают низкую стоимость владения системой.
Nikon Metrology
image
Промышленные рентгеновские системы компьютерной томографии фирмы Nikon обеспечивают высокую точность и возможность измерения внутренних и внешних габаритов исследуемого образца без его разрушения.
Nikon Metrology
image
Промышленные рентгеновские системы компьютерной томографии фирмы Nikon обеспечивают высокую точность и возможность измерения внутренних и внешних габаритов исследуемого образца без его разрушения.
Nikon Metrology
image
Система XT H 225/320 LC для рентгеноскопического и КТ-контроля крупных образцов.
Nikon Metrology
image
Новая "абсолютно точная" система для метрологических исследований с применением КТ (MCT) гарантирует эффективное измерение всей внутренней и внешней геометрии объектов.
Nikon Metrology
image
Компания Accretech (Япония) является крупнейшим производителем высокоточных измерительных систем. Среди них, отдельное место занимают кругломеры - системы для контроля отклонения от окружности и цилиндричности.
Accretech
image
Промышленный рентгеновский томограф широкого спектра применения
Nikon
image
Опция для подсчета компонентов в катушках на рентгеноскопических системах Nikon
image
Благодаря собственной технологии измерений, запатентованной компанией Nikon, которая основана на методе сканирующей оптической интерферометрии, разрешение по высоте может достигать 1 пикометра (пм). Nikon производит широкий спектр оптических микроскопов, используемых в качестве систем измерения, которые отвечают требованиям, предъявляемым к измерениям в самых разных областях применения.
Nikon
image
Цифровой микрометр, выполняющий безупречные контактные измерения размеров, толщины и глубины
Nikon
image
Цифровой микрометр, выполняющий безупречные контактные измерения размеров, толщины и глубины.
Nikon
image
Светлопольная модель автоколлиматора использует фирменную оптику Nikon для подсветки деталей поверхности.
Nikon
image
6D
Темнопольная модель автоколлиматора использует фирменную оптику Nikon для подсветки деталей поверхности.
Nikon
Рентгеноскопическая система XT V 130C Промышленные рентгеновские системы компьютерной томографии XT H 225/225ST
Отправить запрос