Возросшие требования к быстродействию электронных устройств вносят соответствующие поправки в производство печатных плат и микроэлектроники.
На высоких частотах существует необходимость контроля импеданса проводников и дорожек, без которого невозможно корректное функционирование готовых высокочастотных устройств. Импеданс проводников определяется геометрией проводников и зависит от материала изолятора. Таким образом, измеряя импеданс проводников, можно судить о качестве изготовления электронных изделий.
Предлагаемая система TDR4033 производства фирмы MicroCraft позволяет в автоматическом режиме с помощью подвижных пробников проверить комплексный импеданс каждой цепи на корпусе микросхемы. В системе используется рефлектометрический метод (Time Domain Reflectometry, TDR) измерения коэффициента отражения импульсов с малым временем нарастания, что позволяет получить распределение импеданса по всей его длине.
В отличие от стандартных (настольных) решений подобные автоматизированные мехатронные системы поддерживают требуемое давление пробника на контактные площадки изделия в течениевсего тестирования, что позволяет повысить стабильность и качество измерений волнового сопротивления. Кроме того, в случае тестирования корпусов микросхем (типа BGA, C4) невозможно вручную корректно позиционировать пробник на все выводы корпуса ввиду очень маленького шага и большого количества выводов.
Для автоматического контроля волнового сопротивления ВЧ плат или купонов применяется тестер серии HT модель HT6060. Имеются решения с автоматической загрузкой/выгрузкой ПП с последующей сортировкой (годен/не годен) — модель HTA2525.
Такие системы, как TDR 4033 и HT6060, широко распространены в мире и активно используются ведущими производителями микроэлектроники. Например, такой гигант, как Intel, использует 10 систем TDR4033 для контроля качества корпусов микросхем, поступающих от поставщиков.
