Предлагаем ознакомиться в тезисной форме с кратким обзором и ключевыми положениями одного из основных докладов второго дня международной практической конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства электроники», которая проходила с 24 по 25 октября на заводе Совтест АТЕ - «Датчики и Системы» в городе Курске
- 50% отказов аппаратуры в эксплуатации - за счет ЭКБ;
- 2% дефектной ЭКБ на 30% снижает работоспособность аппаратуры
В случае Вашей заинтересованности - материалы презентации в pdf можно скачать здесь.