ООО «Совтест АТЕ» получило официальное свидетельство об утверждении типа средств измерений для измерительных стендов БИС и СБИС J750Ex-HD. Государственный документ выдан Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии.
Система J750Ex-HD (США) предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем ASIC (Application-Specific Integrated Circuit). Используется для контроля параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе.