17-19 февраля 2015 года в МВЦ «Крокус Экспо» (Москва) состоялась 14-я Международная выставка «Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности – NDT Russia», в которой компания «Совтест АТЕ» уже в 5-ый раз подряд приняла участие со своим стендом.В этом году специалисты «Совтест АТЕ» в очередной раз продемонстрировали посетителям выставки «NDT Russia» уникальные решения в области неразрушающего контроля. Наибольшее внимание гостей стенда нашей компании привлекли возможности портативного цифрового микроскопа ShuttlePix P-400R (Nikon). Оборудование является идеальным
решением для захвата изображения больших и тяжёлых образцов, а также для тестирования, анализа и исследования электронных компонентов и электронных устройств собранных из них. Отличительной особенностью микроскопа является его портативность. Встроенная подсветка и съемный аккумулятор позволяют работать без коммутационных проводов и вне помещения до 2-х часов. Быстро переносить готовые снимки на персональный компьютер или ноутбук можно с помощью SD-карты. Благодаря тому, что ShuttlePix работает примерно так же, как и компактная цифровая камера, для пользования им не требуется специального опыта работы с микроскопом. Это позволяет применять его в различных сферах деятельности: авиация, космос, автомобилестроение, искусство, ТЭК, археология и т. п. Кроме того, портативный цифровой микроскоп имеет стильный и компактный дизайн, отлично подходит для работы непосредственно на производственном участке. Оригинальная конструкция позволяет значительно проще проводить удаленный контроль крупных образцов.Интерес со стороны посетителей выставки был проявлен и к другой разработке специалистов Nikon: видеоизмерительной системе iNexiv VMA-2520. Оборудование разработано для исследования объемных образцов/трёхмерных объектов в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, литых пластиковых и металлических деталей, крупных медицинских образцов. Несмотря на компактность и облегченный дизайн, iNexiv VMA-2520 обеспечивает высокие показатели измерений: длинный ход 200 мм по оси Z и большое рабочее расстояние 73,5 мм. Другими достоинствами установки являются:
- легкость и точность измерений, оптимизированная для трехмерных деталей;
- 10-кратный зум, доступный только high-end системам (позволяет работать как с малым, так и с большим увеличением);
- высокоскоростная точная лазерная автофокусировка;
- измерение с контактной измерительной головкой Renishaw;
- комплексное программное обеспечение для автоизмерений VMA;
- возможность создания 3D-модели образца и «сшивания» снимков в единое изображение;
- надежность в использовании, минимальные потребности в обслуживании, длительный период эксплуатации.
У тех, кто не успел оценить преимущества данных систем на выставке «NDT Russia», будет ещё одна возможность сделать это на стенде «Совтест АТЕ» на выставке «ЭкспоЭлектроника-2015» (Павильон 1, зал 4, стенд B 109), которая состоится 24 – 26 марта в «Крокус Экспо» (Москва). Кроме того, специалисты «Совтест АТЕ» представят полный спектр оборудования и решений для изготовления и тестирования электроники и микроэлектроники. Подробнее о выставке читайте в нашем материале здесь. Получите пригласительный билет на выставку «ЭкспоЭлектроника-2015», предварительно пройдя онлайн-регистрацию по ссылке. Заполните предложенную форму, и на указанный Вами адрес электронной почты будет отправлен индивидуальный пригласительный билет, который необходимо обменять на бейдж посетителя при входе на выставку. Будем рады видеть Вас в числе посетителей нашего стенда на «ЭкспоЭлектронике-2015»!