Тестовое решение представляет собой тестер микросхем производства компании Teradyne (США) и автоматическую зондовую установку для тестирования 300-миллиметровых полупроводниковых пластин, производства компании Accretech (Япония). В состав поставленного решения также входит набор необходимой оснастки для механического и электрического сопряжения тестера с зондовой установкой.Автоматическая зондовая установка UF3000 отличается высокой точностью позиционирования (± 1 мкм) и высокой производительностью. Применение данного решения позволит Заказчику обеспечить высокое качество выпускаемой продукции и требуемый ритм производства. Для более подробной информации предлагаем ознакомиться со сравнительной таблицей автоматических зондовых станций производства Accretech.
Информируем Вас, что в период с 24 по 26 марта 2015 года в МВЦ «Крокус Экспо» (Москва) в рамках 18-й выставки электронных компонентов и комплектующих «ЭкспоЭлектроника-2015», в которой по традиции выступит ООО «Совтест АТЕ», специалисты компании Accretech (Япония) готовы провести презентацию своих решений и технические консультации с потенциальными заказчиками установок зондового контроля в рамках 18-й выставки электронных компонентов и комплектующих «ЭкспоЭлектроника-2015» на стенде B109 (Павильон 1, Зал 4) компании ООО «Совтест АТЕ». Если Вы заинтересованы во встрече - просим сообщить заранее для планирования графика встреч.