Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

22-05
2012
Результаты первого участия ООО «Совтест АТЕ» в выставке «Экспоконтроль»

Контроль качества и испытание изделий электроники – именно та область, в которой ООО «Совтест АТЕ» является экспертом. Это подтверждает не только доверие потребителей и 20-летний опыт работы компании на рынке, но и результаты участия в специализированной выставке «Экспоконтроль-2012». На стенде «Совтест АТЕ» традиционно были представлены лучшие решения от ведущих зарубежных производителей – Nikon (Япония), TIRA (Германия), Ideal Aerosmith (США), Vibration Research (США), а также собственные разработки специалистов «Совтест АТЕ», что обеспечило экспозиции компании постоянное внимание со стороны посетителей мероприятия.

Профессиональные консультации, возможность изучить оборудование и даже попробовать протестировать собственные образцы непосредственно во время выставки позволили посетителям стенда «Совтест АТЕ» подобрать оптимальное решение для выполнения своих производственных задач – будь то измерение, испытание или контроль. Надежность и высокое качество предлагаемого оборудования стали еще одной причиной, обеспечившей стенду компании высокую популярность.

В рамках экспозиции «Совтест АТЕ» на выставке «Экспоконтроль-2012» были представлены:
• видеоизмерительная система iNexiv VMA2520 (Nikon)
• стереомикроскопа SMZ-745T (Nikon)
• цифрового микроскопа ShuttlePix (Nikon)
• климатическая камера TCC7025 (TIRA)
• вибрационный стенд TV51120 (TIRA)
• система управления VR9500 (Vibration Research)
• поворотный стол 1291 BR (Ideal Aerosmith)
• тестер микросхем FT-17HF («Совтест АТЕ»)
• усилитель мощности («Совтест АТЕ»)

По сравнению с прошлым годом площадь выставки «Экспоконтроль-2012» увеличилась на 65%, что было вызвано ростом количества компаний-участников. По статистике – это порядка 70 предприятий из России, Великобритании, Нидерландов, США, Швейцарии, Германии. ООО «Совтест АТЕ» впервые вошло в их число, однако учитывая интерес, проявленный к стенду компании со стороны посетителей, в следующем году будет представлено еще больше решений в области контроля, испытания и измерения изделий электроники.

Отправить запрос