Рисунок 1. Свидетельство об утверждении типа средств измерений
Тестер дискретных полупроводниковых компонентов SC5000 (с литерами C или E) (рис.2) предназначен для измерений электрических характеристик большинства типов полупроводниковых приборов:
- диодов;
- зенер-диодов;
- полевых транзисторов;
- биполярных транзисторов;
- транзисторов с изолированным затвором;
- тиристоров;
- динисторов;
- симисторов;
- оптоэлектронных приборов;
- стабилизаторов напряжений и многих других.
Рисунок 2. Тестер дискретных полупроводниковых компонентов SC5000C
На основе измерительного модуля серии 5000 компания «Совтест АТЕ» разработала тестер FT-17SC (рис.3), который позволяет проводить испытания дискретных полупроводников по всем основным электрическим параметрам, выводить отчет об испытаниях на печать, отображать на экране монитора графики зависимостей исследуемых характеристик в режиме реального времени. Полностью русифицированное программное обеспечение и руководство пользователя тестера обеспечивают простоту в понимании и работе с тестером.
Область применения FT-17SC – входной и выходной контроль ЭРЭ, проведение испытаний полупроводниковых приборов в аккредитованных центрах.
Рисунок 3. Тестер производства FT-17SC "Совтест АТЕ"
Утвержденный тип средств измерений тестеров серии 5000 позволяет «Совтест АТЕ» поставлять высококачественное тестовое оборудование с подтверждёнными метрологическими характеристиками и всеми разрешительными документами, оформленными в соответствии с требованиями действующих нормативных стандартов.
Узнайте подробнее об уникальных возможностях тестера полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC производства «Совтест АТЕ» у наших специалистов. Направьте официальный запрос, используя форму на сайте.