30 марта на территории национального исследовательского университета «МГТУ им. Н.Э.Баумана» в Москве состоялась конференция, организованная «Совтест АТЕ» для российских предприятий электронной индустрии.
Заявленная тема конференции - «Отечественные решения в области входного контроля и испытаний ЭКБ» - привлекла большое внимание со стороны российских производителей ЭКБ и радиоэлектронной аппаратуры. На приглашение «Совтест АТЕ» откликнулись такие крупные предприятия, как АО «Концерн «НПО «Аврора», ПАО "Ярославский радиозавод", АО «Ульяновское конструкторское бюро приборостроения», АО "Рыбинский завод приборостроения", АО "Уфимское Приборостроительное Производственное Объединение", ОАО "МТЗ ТРАНСМАШ" и многие другие.
На торжественном открытии конференции выступил генеральный директор ООО «Совтест АТЕ» Игорь Марков, который, к слову, является одним из выпускников МГТУ им. Н.Э.Баумана. Он поприветствовал участников и отметил важность поднимаемой темы, так как электронная компонентная база является основой аппаратной части объектов практически в любой отрасли промышленности.
На открытии конференции с приветственным словом выступил генеральный директор предприятия «Совтест АТЕ» Игорь Марков
Далее с докладом выступил генеральный директор ООО «Совтест Микро» Федор Крекотень. Он представил обзор модельного ряда тестеров микросхем FT-17DT/HF/MINI. Каждый из них имеет свои особенности и преимущества. К примеру, стенд измерительный FT-17HF 768 – это максимум измерительных возможностей при минимальном времени контроля и низких затратах на изготовление измерительной оснастки. Стенд измерительный FT-17DT 256 представляет собой наиболее компактное и мобильное средство тестирования микросхем. А стенд измерительный FT-17MINI , будучи самым компактным в линейке, прекрасно подходит для тестирования небольших партий микроэлектронных компонентов.
После доклада о применении тестеров микросхем FT-17DT/HF/MINI генеральному директору ООО «Совтест Микро» Федору Крекотень поступило множество вопросов из зала
Все стенды работают под управлением программного обеспечения XperTest, разработанного специалистами «Совтест АТЕ». О нем подробно рассказал в своем выступлении начальник отдела разработки программных продуктов Артем Данилин.
Во время кофе-брейка для всех участников конференции проходила демонстрация оборудования, применяемого для входного/выходного контроля радиоэлектронных компонентов. В его состав вошли:
- Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT 17DT-256;
- Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT 17MINI;
- Система машинного зрения FT-Vision – выявление дефектных и контрафактных компонентов на этапе входного контроля (контроль маркировки, измерение геометрических размеров ЭКБ, определение сколов и царапин корпуса компонентов и т.п.);
- Локализатор неисправностей SFL1500 – бюджетное решение для входного контроля компонентов, основанное на методе аналого-сигнатурного анализа;
- Стереомикроскоп SMZ1270 и цифровой микроскоп Inspectis F30s для визуального контроля качества и бесконтактных измерений ЭКБ.
Демонстрация оборудования, применяемого для входного/выходного контроля радиоэлектронных компонентов
Во второй части конференции продолжились выступления спикеров. Ведущий инженер и эксперт Центра технологий неразрушающего контроля Андрей Ивахин выступил с докладом о системе машинного зрения FT-Vision и привел примеры процедур визуального контроля.
Главный конструктор ООО «Совтест АТЕ» Роман Малышев рассказал о решениях в области электротермотренировки (ЭТТ) - испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания с целью выявления изделий со скрытыми дефектами.
После обзора зарубежных решений главный конструктор ООО «Совтест АТЕ» Роман Малышев рассказал о комплексе ЭТТ FTT 17 отечественного производства
Все доклады вызвали живой отклик аудитории: участники активно задавали вопросы, обозначали спорные моменты, сравнивали характеристики, уточняли детали и т.д. Всё это позволяет с полной уверенностью говорить о высокой заинтересованности предприятий электронной индустрии в качественном, надежном оборудовании для проведения входного контроля и испытаний ЭКБ, которое бы в полной мере соответствовало их производственным потребностям.