Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

24-10
2018
Конференция «Стратегия качества в условиях многономенклатурного производства электроники»

В связи с сокращением объема гособоронзаказа, российские предприятия ОПК вынуждены думать о том, как перестроить производственный процесс на выпуск товаров народного потребления, а также наладить получение заказов на их изготовление и организовать их сбыт. Учитывая высочайший уровень конкуренции на этом рынке (помимо уже устоявшихся контрактных производителей), востребованы будут те, кто  обеспечит:
  • полный цикл производства
  • короткие сроки изготовления
  • низкую себестоимость
  • лучшее качество 

Все эти критерии зависят от выбранной стратегии качества. Оптимальный вариант – обнаружение дефекта еще на этапе производства, пока он еще не успел уйти в «серию». Поэтому при разработке/производстве электронных модулей выполняется множество различных проверок и испытаний. Их основная задача – обнаружение и локализация дефекта с последующим его устранением. Однако случается так, что некоторые дефекты тестовые системы могут пропустить (в зависимости от выбранной стратегии), при этом в целом изделие будет работать. И если на начальном этапе эксплуатации такого электронного модуля это может и не повлиять на его работоспособность, то в дальнейшем пропущенные дефекты станут причиной нестабильной работы или даже приведут к полному отказу всего изделия и к сокращению срока его службы.

Как же обнаружить неисправности и в целом снизить количество бракованной продукции, следовательно, повысить её качество? Об этом и пойдет речь на конференции «Стратегии качества в условиях многономенклатурного производства», которая состоится 24 - 25 октября 2018 года на территории нового завода «Совтест АТЕ» в Курске.

Разработка современных тестовых систем для контроля качества электронных изделий является одним из приоритетных направлений деятельности ООО «Совтест АТЕ». Накопленные за 27 лет работы компании знания и опыт позволили организовать собственное производство с сертифицированной Системой менеджмента качества (ISO 9001:2015).

Ключевые темы конференции: 
  • Внутрисхемное тестирование – гарантия работоспособности электронных модулей
  • Место автоматизированных тестовых систем в современном производстве электроники
  • Внутрисхемное тестирование применительно к контрактному производству (FoxConn, Flextronics, Jabil и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»
  • Внутрисхемное тестирование применительно к контролю изделий спецтехники (Thales, Raytheon, Alcatel и др.). Опыт компании Seica и «Совтест АТЕ»
  • Презентация-демонстрация новейшей тестовой системы с подвижными пробниками Pilot NEXT
  • Pilot NEXT – специальные возможности для функционального контроля
  • JTAG-тестирование как бюджетное решение для тестирования (и не только) электронных модулей
  • 3D АОИ: сильные и слабые стороны. Стоит ли следовать модным трендам
  • Решения «Совтест АТЕ» в области входного контроля и испытаний ЭКБ
  • Функциональное тестирование – универсальный подход для испытаний широкой номенклатуры изделий электроники
  • Ремонтный участок «Совтест АТЕ» - современная философия поиска неисправностей

В рамках конференции состоится демонстрация оборудования, применяемого для обеспечения контроля качества выпускаемой продукции:
  • Система электроконтроля с подвижными пробниками  Pilot V8 NEXT Series (Seica, Италия);
  • Система JTAG-тестирования SCANFLEX II Cube (Goepel, Германия);
  • Тестовая система с подвижными пробниками для контроля ПП/МПП  E4L6151 (Microcraft, Япония);
  • Рабочее место ремонтника /регулировщика РЭА 
  • Промышленный рентгеновский томограф XT H320 (Nikon, Великобритания)
  • Рентгеноскопическая система для участка SMT монтажа – XT V160 (Nikon, Великобритания)
  • Оборудование для входного контроля и функционального тестирования.
 
Бесплатно зарегистрироваться для участия в конференции Вы можете, перейдя по  ссылке.

Отправить запрос