Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

11-05
2016
Физики МГУ рассказали об измерении важных параметров сверхпроводников

Международная группа ученых при участии исследователей из МГУ провела работу, в результате которой удалось выяснить, как именно нужно измерять один из важных параметров сверхпроводников. Результаты исследования были опубликованы в журнале Nanoscale Research Letters.

Суть работы состоит в теоретическом исследовании тонких эффектов, имеющих место в контактах двух сверхпроводников. Сверхпроводники — это материалы, которые при низких температурах имеют нулевое сопротивление и выталкивают из себя магнитное поле. Самый простой способ их исследовать — надломить проволочку из сверхпроводника и измерить особенности вольт-амперной характеристики (они имеют вид чередующихся максимумов и минимумов). По значениям этих максимумов (минимумов) можно судить о важном параметре сверхпроводника — величине его параметра порядка, определяющей, в том числе, температуру сверхпроводящего перехода.

В своей работе ученые показали, что учет влияния тонкого деградированного слоя сверхпроводника, зачастую находящегося на его поверхности, снимает это противоречие (выбор между измерением максимумов и минимумов) — максимумы плавно переходят в минимумы. Особенностью данной работы является интернациональный коллектив ее участников: она объединила ученых из России, Германии и с Украины.

«Естественным развитием данной работы является изучение сверхпроводящих контактов из новых необычных сверхпроводников, используя методы, разработанные моей научной группой», — заключает один из авторов статьи Игорь Девятов, ведущий научный сотрудник отдела микроэлектроники НИИ ядерной физики имени Д.В. Скобельцына.

Мы используем куки для улучшения работы этого сайта
Продолжая просмотр сайта, вы соглашаетесь с политикой обработки персональных данных и cookie-файлов