Игорь Приходько, Технический директор
Опубликовано в
«Производство электроники», № 6 за 2012 год.
Разработка современных тестовых систем для контроля качества изделий микроэлектроники являлась для
Актуальность решения
В настоящий момент в России многие
Распространенная сегодня практика выбора «второго» поставщика не гарантирует качества поставляемых компонентов и не может служить критерием оценки работоспособности того или иного элемента. Не имея в своём распоряжении парка измерительного и испытательного оборудования, «второй» поставщик зачастую ограничивается лишь проверкой внешнего вида компонента. Однако для каждого элемента должен быть проведён комплекс испытаний на соответствие требуемым характеристикам, а также выполнена проверка его работы в критических и предельных условиях. Таким образом, для обеспечения надёжности продукции сертификационные центры «второго» поставщика, а также участки входного контроля
Существующее на сегодняшний день тестовое оборудование для контроля качества сложных электронных компонентов не всегда соответствует требованиям пользователей. Развитие ЭКБ предусматривает применение более мощных средств контроля по сравнению с использовавшимися ранее. Также немаловажен вопрос универсальности: наличие единого решения как для тестирования цифровой, так и
Еще одна проблема: многие тестовые системы, используемые в центрах по сертификации, представляют собой так называемый «чёрный ящик», в котором принцип тестирования параметров и функционирования компонента основан на выдаче результата ГОДЕН/БРАК. Зачастую «закрыт» и сам метод контроля того или иного параметра. В данном случае понять, что происходит внутри тестовой системы, пользователю невозможно, как и невозможно скорректировать метод или задать иной алгоритм контроля.
Таким образом, сегодня существует потребность в системах с открытым доступом ко всем измерительным возможностям. Особенно это актуально для сертификационных центров, которым важен не только потоковый режим проверки ЭКБ (контроль параметров больших партий), но и исследовательский, что позволит оценить динамику изменения параметров ЭКБ.
Подобные системы предлагают зарубежные
Обратимся к другому аспекту тестирования ЭКБ. Сегодня для повышения надежности спутников широко используется импортная ЭКБ, которую также необходимо сертифицировать. Ситуация осложнена тем, что на такие компоненты, в отличие от ЭКБ российского производства, есть только так называемый «datasheet» (прим.: перечень технических характеристик), которого недостаточно для получения достоверной методики тестирования. В datasheet описан лишь принцип работы того или иного компонента, зачастую ложный или ошибочный. Использовать эти сведения для формирования нормальной программы контроля получается крайне редко.
Описанные выше проблемы не являются новыми для российских специалистов. Однако до сих пор не был найден выход, который мог бы решить все задачи, стоящие перед современными сертификационными центрами. Очевидно, что добиться положительного результата в сложившейся ситуации возможно лишь совместными усилиями поставщиков, производителей и потребителей.
Тестовая система
Инжиниринговая компания «Совтест АТЕ» уже давно идёт по пути освоения производства собственного оборудования с учётом требований и специфики российских потребителей. Предприятие имеет 20-летний опыт работы с ведущими мировыми производителями тестового и испытательного оборудования, активно сотрудничает с зарубежными и российскими испытательными центрами, с российскими производителями ЭКБ. Кроме того, «Совтест АТЕ» участвует в проектах по разработке ЭКБ: совместно с институтом Fraunhofer (Германия) был спроектирован и изготовлен прототип двухосевого
Данная
По своим техническим характеристикам тестер не уступает зарубежным аналогам, однако по сравнению с ними имеет более низкую стоимость за счет отечественного производства. Основу комплекса
Механическая конструкция тестера разработана с учетом требований по электромагнитной совместимости, эргономики и безопасности. Требуемые температурные режимы внутри корпуса обеспечиваются системой воздушного охлаждения (водяное охлаждение не требуется). Манипулятор позволяет перемещать и вращать тестовую голову во всех осях, что обеспечивает возможность жесткой (бескабельной) стыковки со вспомогательным оборудованием: зондовые установки, проходные камеры, автоподатчики.
Рис. 1 Тестер микросхем
Области применения:
• Выходной контроль интегральных микросхем (в корпусе и на полупроводниковой пластине) на производстве и в лабораторных условиях.
• Входной контроль интегральных микросхем на
•
• Образовательный процесс, изучение принципов работы микроэлектроники и тестового оборудования.
Отличительные особенности:
• Высокая производительность — за счет современной архитектуры
• Универсальность — контроль как цифровых, так и
• Гибкость — конфигурация тестера может легко изменяться и наращиваться при необходимости.
• Измерительная часть тестера выполнена с применением последних технологий в области компонентой базы.
• Простота создания тестовых последовательностей.
• Простота в эксплуатации и обслуживании.
• Возможность непосредственной стыковки («жёсткая» стыковка) с автоматическими загрузчиками изделий (зондовые установки, проходные камеры и др.).
Технические характеристики:
Количеств измерительных каналов: 768 (до 12 плат по 64 канала)
Максимальная частота следования тестовых векторов: 400 Mbps
Дискретность задания временных параметров: 39 пс
Количество временных меток на канал: 4 или 8 (в режиме мультиплексирования)
Максимальное рассогласование каналов: ±250 пс (пикосекунд)
Глубина памяти тестовых векторов на канал: 128 Мбит (расширение до 256 Мбит)
Диапазон задания/контроля напряжения: — 2… +6 В (или 0… +8 В)
Максимальная потребляемая мощность: 4 кВт (киловатт)
Система охлаждения: воздушная
Сжатый воздух/вакуум: не требуется
Тестовая система
В июле 2012 года был изготовлен первый образец тестовой системы
Конструктив тестовой системы
Рис. 2 Тестовая система
Однако главное преимущество системы
Программное обеспечение XperTest
Для управления работой комплексов
Создание тестовой программы в общем случае сводится к введению данных, которые пользователь получает из технических условий на тестируемые компоненты в диалоговые окна программы. Тестовые последовательности формируются таблично или в графическом редакторе, который также выполняет функцию монитора входных/выходных сигналов. Таблицы тестовых последовательностей вводятся вручную или автоматически транслируются в формат тестера из файла САПР типа «Невод», VCD, STIL и др. Разработка тестовых программ основана на применении стандартных и пользовательских методов контроля (библиотек контроля). При этом значительно сокращается и упрощается процесс разработки тестовых программ, повышается полнота и достоверность результатов тестирования. Программное обеспечение включает в себя также мощный инструментарий для отладки тестовых программ и исследования выдаваемых и считываемых значений.
Рис. 3 Пример создания программы контроля с помощью ПО XperTest
Стоит отметить, что специалисты «Совтест АТЕ» постоянно повышают уровень своей компетенции в разработке и создании современного тестового программного обеспечения. В сентябре 2012 года они приняли участие в обучающем семинаре «Основы цифрового тестирования и тестирование смешанного сигнала», организованном компанией SmarTest (Германия).
Обучение проходило по программе, разработанной компанией Soft Test (США), которая имеет более 30 лет опыта в создании эффективных курсов в области тестовых технологий. В свою очередь, немецкие специалисты из SmarTest — ведущего европейского обучающего центра — подобрали оптимальную программу, позволяющую усовершенствовать навыки разработки современного тестового ПО с минимальными затратами временных и человеческих ресурсов.
В результате обучения инженеры «Совтест АТЕ» получили возможность не только укрепить свои знания, но и решить ряд практических вопросов. Теперь специалисты компании готовы к выполнению самых сложных задач по разработке методик контроля параметров и функционального тестирования цифровых микросхем и микросхем смешанного сигнала (АЦП, ЦАП). По итогам учебного курса и успешного выполнения тестовых заданий инженерам «Совтест АТЕ» были выданы соответствующие сертификаты.
Заключение
Многолетний опыт работы в области контроля качества изделий электроники и доступ к передовым мировым технологиям позволили специалистам «Совтест АТЕ» разработать решение, не уступающее зарубежным аналогам и способное составить достойную конкуренцию имеющимся на рынке тестовым системам. Понимание специфики потребностей отечественных предприятий обеспечило соответствие тестовых систем
Вложение | Размер |
---|---|
MADE IN | 2.29 МБ |