Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Технические возможности и процессы

Свернуть Развернуть
Технические возможности и процессы

Технические возможности оборудования

Производительность

17, 500 комп./час

Точность установки

± 0.04mm @ 3 sigma

Шаг выводов микросхем, мм:

Шаг выводов - от 0.2 до 2.54 мм

 

Шаг шариков - от 0.25 до 2.0 мм

 

Диаметр шариков - от 0.1 до 0.63 мм

Размер Chip-компонента

от 01005

Размеры рабочего поля, мм

минимальный – 50.0 х 30.0 мм

 

Максимальный – 410.0 х 360.0 мм


Технологический процесс производства


  1. Тестирование ПП
  2. Нанесение паяльной пасты
  3. 3D оптический контроль AOI
  4. Установка компонентов
  5. Входной контроль компонентов и сертификация Установка компонентов
  6. Оплавление припоя
  7. Оптический контроль AOI
  8. Рентгеновский контроль AXI
  9. Внутрисхемное тестирование ICT
  10. Комбинированное тестирование ICT+FT

Услуги контрактного производства

  • Разработка конструкторско-технологической документации 
  • Технологический аудит и консалтинг
  • Жгутовое производство
  • Контрактное тестирование и испытание
  • Слесарносборочное производство
  • Обратное проектирование 

Разработано и произведено Совтест

Импортозамещение
Вся продукция
Аппликатор с механической подачей наконечников в ленте.
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Автономная тележка со световой визуализацией pick-by-light (pick-to-light) для одновременного комплектования нескольких заказов.
Импортозамещение
Шкафы SDB обеспечивают сохранность паяемости компонентов и электрических характеристик диэлетриков в условиях осушения внутренней среды шкафа в соответствии с требованиями по хранению радиотехнических изделий, регламентированых стандартами.
Импортозамещение
Отправить запрос