Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Автоматические сортировщики и манипуляторы

Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники при температурах от минус 60 до плюс 155° С и последующей их сортировкой по результатам тестирования.

Манипуляторы совместимы с такими тестовыми системами как Teradyne, Sovtest FT17HF, Verigy и др.

Область применения:
  • Приемо-сдаточные испытания ЭКБ.
  • Входной контроль ЭКБ
  • Квалификационные и отбраковочные испытания ЭКБ.
Краткое описание

 Манипуляторы состоят из следующих основных частей:
  • Система загрузки с автоматическим захватом микросхем
  • Проходная камера тепла и холода с программируемым временем выдержки
  • Устройство автоматической подачи микросхем в контактное устройство
  • Контактное устройство
  • Система стыковки с тестером
  • Систему выгрузки с сортировкой по результатам тестирования
По способу перемещения тестируемых устройств манипуляторы делятся на два типа: гравитационные и роботизированные (Pick&Pplace). В гравитационных камерах перемещение компонентов происходит по наклонным или вертикальным направляющим за счет собственного веса, в перегрузочных- компоненты переставляются из зоны в зону с помощью системы головок с вакуумными наконечниками, это напоминает работу автоматов для установки компонентов на плату. Конструкция гравитационных систем проще, однако она не позволяет работать с микросхемами, поставляемыми в поддонах.Технические характеристики:
модель SO1000 SO2000 Castle Matrix
 
Производитель Rasco (Германия) Delta (США)
Тип гравитационный Pick and Place
Температура тестирования От минус 60 до плюс 175 ° С
Типы корпусов SO,QFN, uBGA, SIP,DIP QFP,SOP,BGA, LCC, SOIC, QFN
Загрузка пенал Пенал, россыпь,
магазин
поддон
Выгрузка пенал Пенал, россыпь, магазин, упаковщик в ленту с оптической
инспекцией
поддон
Мин. размер корпуса 3х3 мм 1,5х1,5 мм 4x4 мм
Макс. размер корпуса 12х18 мм 48x48 мм  
Макс. кол-во одновременно тестируемых микросхем 4 9 32
Кол-во групп сортировки 2 4 8  
Макс. производи тельность 14 400 комп/час 16 000 комп/час 5200 комп/час 16 000 комп/час
 
Смежные продукты
image
Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции (от малой до сверхбольшой).
Teradyne
image
Комплексы для проведения электротермотренировки изделий микроэлектроники в соответствии с требованиями Российских и международных стандартов.
EDA Industries
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
image
Микроэлектромеханические системы (МЭМС) – небольшие устройства, объединенные с полупроводниковыми приборами и сочетающие характеристики электронных схем и механических компонентов.
Sovtest (Россия)
image
Зондовые установки применяются в производстве микроэлектроники и предназначены для автоматического позиционирования и установки полупроводниковых пластин в держателе для их тестирования пластин с помощью тестеров параметрического и функционального контроля полупроводниковых приборов Sovtest FT17 HF, Teradyne, Verigy и др.
Accretech
image
Тестер микросхем FT-17DT представляет собой настольный вариант тестера FT-17HF (англ.: DT, desk top – настольный), предыдущей разработки специалистов «Совтест АТЕ» в области контроля качества изделий микроэлектроники.
Sovtest (Россия)
Автоматические зондовые установки для тестирования полупроводниковых пластин (Accretech, Япония) Тестер микросхем FT-17DT
Отправить запрос