Потрясающие результаты измерений
- Осуществляет измерения сверхгладких поверхностей с разрешением на уровне 0,1 нм, без усреднения и фильтрации.
- Позволяет выполнять измерения с одинаковым разрешением по высоте в различных диапазонах увеличения.
- Позволяет выполнять измерения как гладких, так и шероховатых поверхностей без смены режима измерения или оптических фильтров.
- Регистрирует как полнофокусное изображение, так и изображение высоты поверхности.
Широкий спектр методов наблюдения
Данная система может быть использована в качестве оптического микроскопа. Возможно выполнение наблюдений по методу светлого поля, поляризации, ДИК и флуоресценции.
Профилометр BW-D501 Карбидокремниевая пластина:


