Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Seica

Модель Compact SL – это встраиваемая в производственную линию тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей при крупносерийном и массовом производстве.

Функциональные возможности:
  • внутрисхемное аналоговое тестирование: коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
  • внутрисхемное цифровое тестирование (опция): контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности.
Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например, при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние). Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы - 1536 (с шагом, кратным 64). Система работает с адаптерными устройствами типа «поле контактов» (bed-ofnails) с автоматическим пневматическим прижимом. В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, контроллера динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.
Технические характеристики:
Тестируемая плата Макс. размер: 480х360 мм
Внутрисхемное тестирование КЗ/Обрывы
Сопротивление: 0,1 Ом - 100 МОм
Емкость:10 пФ - 10000 мкФ
Индуктивность: 1 мкГн - 100 мГн
Транзисторы
Диоды и стабилитроны до 100 В
Трансформаторы
Реле
Непропай выводов микросхем (опция)
Контроль качества пайки (опция) Система локализации неприпаянных выводов микросхем (BGA, QFP, PLCC и т.д.)
Производительность Время загрузки и выгрузки платы – 8 с. Время внутрисхемного тестирования платы с 60-100 компонентами ориентировочно 15-25 с.
Общие характеристики Габаритные размеры (ДхШхВ): 1600х900х1600 мм
Вес: 300 кг
Эл.питание: 220В, 50Гц, 2,5 кВт
Пневмопитние: 5,5 атм, 20л/мин
Интерфейс SMEMA для встраивания в конвейерную линию
 
Смежные продукты
image
Модель TR-17VIP – это комбинированная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.
Sovtest (Россия)
image
Модель Compact TK– это адаптерная тестовая система, предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.
Seica
Адаптерная тестовая система для аналогового и цифрового внутрисхемного тестирования модель Compact TK
Отправить запрос