Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Xyztec

Установка Condor Sigma W12 специально разработана для прецизионного тестирования на сдвиг и отрыв столбиковых и шариковых выводов на уровне полупроводниковой пластины. Установка имеет наибольшую рабочую зону и перемещение по осям X/Y в индустрии.

Установка Condor Sigma W12 –  самая современная на рынке система тестирования соединений, объединяющая уникальные преимущества серии Condor с самыми новейшими технологиями тестирования  и инновациями. Возможны два варианта исполнения системы – настольная установка или полностью автоматическая интегрированная установка с системой загрузки пластин. Держатели для пластин изготавливаются в соответствии с требованиями конкретного технологического процесса.

Интегрированная установка представляет собой полностью автоматическую, высокоточную, безопасную систему с максимальной производительностью. Отличительными особенностями установки Condor Sigma W12 являются: автоматическое определение размера пластины, центрованные зажимы на основе ПИД-регулятора, предотвращающие повреждение пластины при загрузке/разгрузке.

Отличительные особенности:

Револьверная измерительная головка

Компания XYZTEC хорошо известна многими инновационными решениями тестирования соединений.  Револьверная измерительная головка (RMU) – один из результатов проектной группы XYZTEC, использующей обратную связь с потребителями. Гибкая конфигурация включает от 1 до 6 датчиков, позволяющих осуществлять полностью автоматическое или ручное тестирование. По сравнению с заменяемыми вручную картриджами RMU способствует сокращению времени переналадки и уменьшению риска повреждения датчиков. Датчики не требуют замены или нагрева, выбор датчика с инструментом осуществляется простым нажатием кнопки. 

Плавное касание и высокое разрешение

Установка Condor Sigma W12 может выполнять различные типы тестирования с усилием, которое может быть менее 0,1 гс и до 10 кгс. Благодаря интеллектуальному программному обеспечению  измерительная головка быстро перемещается к области тестирования, после приближения к области тестирования скорость измерительной головки уменьшается. Поправка с цифровой индикацией и самое высокое в мире разрешение, равное 24 бит, способствуют получению самых надежных и повторяемых  результатов измерения. Усилие сдвига программируется до минимум нескольких грамм. Даже при более высокой скорости возможно плавное касание. 

Встроенная система захвата изображения и автоматическая камера

Стандартная конфигурация установки включает перпендикулярную автоматическую камеру с небольшим смещением от контрольно-измерительной точки, с двумя видами увеличения и оптическим разрешением до 1.5 мкм. Установка Condor Sigma W12 может быть оснащена камерой высокого разрешения с оптической системой Mitutoyo которая обеспечивает захват детального изображения более высокого качества. Также, в целях автоматизации имеется опция распознавания реперных знаков.

Боковая камера

При помощи перпендикулярной камеры, которая обычно устанавливается на микроскоп, инструмент можно с легкостью совместить с тестируемым объектом в направлении слева направо, однако, в данном случае могут возникнуть сложности при совмещении инструмента в направлении вперед/назад. Для решения этой проблемы можно установить боковую камеру, которая позволит без усилий производить совмещение инструмента в любом направлении.

Держатель пластин

В большинстве случаев, сжатый воздух, подаваемый на вакуумный держатель XYZTEC, легко удерживает деформированные пластины. В случае если пластина чрезвычайно сильно деформирована, дополнительный держатель пластин гарантирует точную фиксацию (опция).

Устройство очистки держателя пластин

Чтобы удостовериться в том, что на пластине или на держателе не имеется никаких обломков пластины или загрязнений, в комплект установки может быть добавлен специальный полностью автоматический очиститель, который может выполнять очистку как до так и после тестирования. 

Центрованные зажимы

Управляемые ПИД-регулятором центрованные зажимы с мягкими и гибкими вакуумными наконечниками надежно фиксируют как ровные, так и деформированные пластины, предотвращая их повреждение при загрузке/разгрузке. 

Совмещение пластины

Для точной загрузки и совмещения пластины используются современные высокоточные оптические датчики.

Импорт/экспорт файлов с картами полупроводниковой пластины 

Программное обеспечение для установок Condor Sigma  позволяет импортировать и экспортировать файлы с картами полупроводниковой пластины в различных форматах (KLARF, INF, и т.д..). После импорта предоставляется полный обзор на карту пластины, система шаг за шагом проведет оператора по отмеченным дефектам. Проверенные позиции отмечаются на карте. После завершения тестирования, карта пластины и результаты тестирования могут быть экспортированы, обеспечивая полную прослеживаемость. Для каждого кристалла, можно сохранить результаты тестирования в формате картинки с высоким разрешением, на которой показываются и отмечаются тестированные позиции. Имеется программа просмотра файлов в режиме offline, позволяющая проверить экспортируемые файлы карты пластин и результаты тестирования.

Автофокус и система статистического контроля процессов

XYZTEC также предлагает расширенную версию программного обеспечения для установок тестирования Condor Sigma, которое позволяет производить статистический контроль процессов, и обладает улучшенной. Программное обеспечение обладает функцией автоматического распознавания и нахождения реперных точек, что значительно упрощает программирование последовательности выполнения автоматических действий. Средства автоматизации Condor Sigma обеспечивают быстрое тестирование случайно выбранных позиций. Функция распознавания реперных знаков гарантирует высокую повторяемость. С помощью видеосистемы оператор также может проводить и градуировку результатов, функциональность которой позволяет это сделать за считанные секунды.

Идеальное решение для тестирования на уровне пластины диаметром до 300 мм 

  • Прецизионное тестирование на сдвиг и отрыв шариковых и столбиковых выводов
  • Размер выводов до 20 мкм
  • XY карта координат 
  • Функция градуировки результатов
  • Простота позиционирования и совмещения
  • Видеокамеры высокого разрешения, малое и большое увеличение
  • Самая быстрая установка тестирования на уровне пластины в мире
  • Перемещение по всей пластине без необходимости перепозиционирования пластины на держателе
  • Обдув воздухом и вакуумная очистка инструмента
  • Вакуумный держатель пластин с системой блокировки и вращением на 360°
  • Держатель пластин механически блокируется когда включен вакуум
  • Соответствие стандартам JEDEC JESD22-B117A, JEDEC JESD22-B115, JEITA EIAJ ET-7407 и MIL STD
  • Совместимость с другими диаметрами пластин (200 мм и менее)
  • Разрешение 24 bit ADC, 10кГц частота дискретизации
  • Совместимость, как с револьверной измерительной головкой, так и с отдельными измерительными головками
  • Непревзойденная точность тестирования: до 0.075% от максимального тестового усилия


Области применения:

  • Ball shear / Solder ball shear Тестирование на сдвиг шариковых выводов / шариковых выводов из припоя 
  • Bending Испытание на изгиб
  • Cavity shear Специализированный тест на сдвиг шарика с распределением усилия по поверхности шарика
  • Cold Bump Pull Тестирование на отрыв шариковых выводов 
  • Copper pillar Тестирование медных столбиков на отрыв и сдвиг
  • Creep test Испытание долговременной прочности при статической нагрузке
  • Die shear Тестирование на сдвиг кристалла
  • Fatigue Тестирование на усталостную прочность
  • High speed impact Тестирование на ударные нагрузки
  • Lead integrity / Micro torsion Тестирование выводов на растяжение/изгиб/усталость
  • Lid pull Тестирование на отрыв крышки корпуса
  • Lid torque Тестирование крышки корпуса на скручивание
  • Loop height Измерение высоты петли соединения
  • Overhanging die Тестирование нависающего кристалла
  • Passivation layer gold ball shear Тестирование на сдвиг шариковых выводов на пассивирующих слоях
  • Probe test Испытание с помощью зонда
  • Ribbon peel Тестирование ленты на отслаивание
  • Ribbon pull Тестирование ленты на отрыв
  • Scratch / coating Тестирование качества покрытий царапанием
  • SMD shear Тестирование на сдвиг SMD-компонентов
  • SMD gull wing leads Тестирование SMD выводов в виде крыла чайки
  • Spring rigidity Тестирование жесткости пружинных контактов
  • Stud pull Тестирование столбиковых выводов на отрыв
  • Total Ball Shear / Zone shear Тестирование на сдвиг группы шариков
  • Tweezer pull Тестирование на отрыв с помощью пинцета
  • Vector pull Векторное тестирование на отрыв 
  • Wedge and ribbon shear Тестирование на сдвиг проволоки/ленты
  • Wire pull Тестирование на отрыв проволоки

Технические характеристики:




Смежные продукты
image
Бюджетная установка Condor Sigma LITE обеспечивает высокую производительность сохраняя задел на будущее. Технические характеристики модели LITE могут быть усовершенствованы до характеристик установки Condor Sigma
Xyztec
image
Установка Condor Sigma – самая современная на рынке система тестирования соединений, объединяющая уникальные преимущества серии Condor с самыми новейшими технологиями тестирования и инновациями. Независимо от того, необходим ли узкоспециализированный или многофункциональный прибор для тестирования соединений, Condor Sigma – лучший выбор, обеспечивающий не имеющую аналогов точность, равную 0.075%, наилучшую эргономику, самую высокую производительность, максимальную универсальность и самую низкую стоимость владения.
Xyztec
Установка тестирования прочности соединений Condor Sigma
Отправить запрос