Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Электроконтроль компонентов

Свернуть Развернуть
Стенд FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифров...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17HF-768 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, которая осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифров...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17DT-256 представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифр...
Sovtest (Россия)
Стенд FT-17MINI-9U представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Стенд FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-а...
Sovtest (Россия)
Стенды FT-17MINI представляет собой автоматизированную многоканальную аппаратуру для функционального и параметрического контроля, который осуществляется путем подачи сигналов напряжения и тока на выводы тестируемой микросхемы и измерения выходных сигналов...
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной...
Teradyne
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы,...
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со...
Teradyne
Принцип действия системы J750Ex-HD основан на методах функционального и параметрического контроля.
Для проведения функционального контроля на измеряемую микросхему подается входной набор сигналов, при этом выходной набор сигналов от объекта контроля...
Сортировщик предназначен для автоматической выборки микросхем, а также изделий МЭМС из технологическ...
Cohu
Delta Eclipse cовместим со следующими тестовыми системами: 
  • FT-17DT, FT-17HF (ООО "Совтест-АТЕ")
  • J750, UltraFLEX, MicroFLEX (Teradyne)
  • Verigy V93000 (Advantest)

Области применения:...
Отправить запрос