Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Испытательный стенд термоэлектротренировки FTT-17.25.001

Sovtest (Россия)

Испытательный стенд термоэлектротренировки FTT-17 предназначен для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания с целью выявления изделий со скрытыми дефектами.

Отличительные особенности:
  • Максимальное количество слотов для кассет – 25. 
  • До 5-ти независимых источников питания на слот.
  • Задание электрических режимов при помощи модулей DIO6420 (опционально)

Области применения:

Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе. 
Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами. 


Смежные продукты
image
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем SA-24/SM-24, EDA Industries предназначены для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания.
EDA Industries
image
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-24/DM-24, EDA Industries предназначены для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания
EDA Industries
image
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем QA-48/QM-48, EDA Industries предназначены для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания
EDA Industries
image
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-48/DM-48, EDA Industries предназначены для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания.
EDA Industries
image
Испытательный стенд термоэлектротренировки FTT-17 предназначен для испытаний интегральных микросхем (ИМС) на воздействие температуры при одновременной подаче электрических режимов в течение всего времени проведения испытания с целью выявления изделий со скрытыми дефектами
Sovtest (Россия)
Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем DA-24/DM-24 Комплекс электротермотренировки интегральных микросхем QA-48/QM-48
Отправить запрос