Контроль качества пайки ПП

Name: Контроль качества пайки ПП
Brand: Sovtest (Россия)
Rating: 5 (223 reviews)

Nikon

Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах

Назначение

Решение предназначено для контроля качества пайки электронных компонентов на печатных платах.

Описание

Основа решения - стереоскопический микроскоп серии SMZ фирмы Nikon (SMZ745T, SMZ800N), в сочетании с наклонно-поворотным столом и/или специальным модулем наклонного наблюдения. В дополнение к превосходным оптическим характеристикам микроскопа предлагается широкий выбор принадлежностей, позволяющий решить любые задачи исходя из требований Заказчика.

Решение позволяет

Работать с платами размером до 1 метра длиной и шириной, а также любой формы, за счет использования набора магнитного крепления образца
Осуществлять 360° инспекцию без перемещения объекта
Обнаруживать различные дефекты паяных соединений
Качественно производить ремонтные работыМикроскоп SMZ800 (1) на универсальном штативе (2), в комплекте с модулем наклонного наблюдения (3), наклонным-поворотным столом (4) и системой документирования (5)

Смежные продукты

SMZ745T тринокулярный стереомикроскоп

Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.

Nikon

ShuttlePix P-400Rv цифровой микроскоп

Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.

Nikon

SMZ800N стереомикроскоп

Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы

Nikon

AZ100 многоцелевой микроскоп с макро-увеличением

Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.

Nikon

MA100 инвертированный металлографический микроскоп

MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.

Nikon

MA200 инвертированный металлографический микроскоп

Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.

Nikon

LV150 прямой промышленный микроскоп

Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.

Nikon

L200 микроскоп для контроля качества пластин

В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.

Nikon

L300 микроскоп для контроля качества пластин

Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.

Nikon

SMZ25/18 новые стереомикроскопы

Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.

Nikon

Объективы CFI60-2 для промышленных микроскопов CFI60-2

Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON

Nikon

SMZ1270 стереомикроскоп

Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.

Nikon

SMZ1270i стереомикроскоп

В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.

Nikon

NeoScope JCM-6000Plus

Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.

Nikon

Цифровой микроскоп высокого разрешения Inspectis C12

Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:

FT-VISION

Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.

Sovtest (Россия)

Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON Стереомикроскоп SMZ1270

Контроль качества пайки ПП

Nikon

Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах

Назначение

Описание

Решение позволяет

Уточнение цены оборудования

Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах — Nikon