Назначение
Решение предназначено для контроля качества пайки электронных компонентов на печатных платах.Описание
Основа решения - стереоскопический микроскоп серии SMZ фирмы Nikon (SMZ745T, SMZ800N), в сочетании с наклонно-поворотным столом и/или специальным модулем наклонного наблюдения. В дополнение к превосходным оптическим характеристикам микроскопа предлагается широкий выбор принадлежностей, позволяющий решить любые задачи исходя из требований Заказчика.Решение позволяет
- Работать с платами размером до 1 метра длиной и шириной, а также любой формы, за счет использования набора магнитного крепления образца
- Осуществлять 360° инспекцию без перемещения объекта
- Обнаруживать различные дефекты паяных соединений
- Качественно производить ремонтные работыМикроскоп SMZ800 (1) на универсальном штативе (2), в комплекте с модулем наклонного наблюдения (3), наклонным-поворотным столом (4) и системой документирования (5)