8 (800) 200-54-17 +7 (4712) 54-54-17
Cовременное тестовое оборудование и технологии
Отправить запрос Техподдержка
info@sovtest-ate.com
service@sovtest-ate.com
Рус Eng

LV150 прямой промышленный микроскоп

Nikon

Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.

Прямые промышленные микроскопы  серии LV150 обеспечивают превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества других образцов.

Выбор из двух моделей

Eclipse LV150 является стандартной моделью линейки, а модель Eclipse LV150A оснащена моторизованным револьвером объективов. Модель LV150 снабжена защитой от статического электричества, что делает ее подходящей для работы с магнитными головками, в то время как благодаря универсальному моторизованному револьверу объективов и специальному размещению элементов управления модель LV150A идеально подходит для производства полупроводников.

Эргономичный дизайн

Все элементы управления расположены на передней части промышленного микроскопа для минимизации движения рук, а уровень окуляров находится на оптимальном для глаз уровне, чтобы обеспечить комфортную работу. Механизм рефокусировки предотвращает повреждение объектива при касании образца. В стандартный комплект модели L150A входит фиксированный моторизованный пятиместный револьвер объективов. Благодаря встроенному программному обеспечению револьвер останавливается точно в положении каждого объектива. Элементы управления револьвера расположены под предметным столиком в целях предотвращения загрязнений, так как теперь нет необходимости касаться руками области столика.

Наклоняемый тринокулярный тубус

Наклоняемый тринокулярный тубус (прямое изображение) обеспечивает комфортное наблюдение для всех пользователей, независимо от их анатомических особенностей и расположения. Он имеет распределение светового потока 100:0/20:80 для одновременного использования с монитором или системой Digital Camera System. Также возможна поставка с ненаклоняемым тринокулярным и бинокулярным тубусом.    

Моторизованные или ручные револьверы объективов

Усовершенствованный универсальный моторизированный револьвер объективов встроен в штатив микроскопа. Ручные револьверы объективов имеются в наличии для универсальных задач, задач светлого поля или светлого/темного поля.  
 

Механизм ступенчатой системы возрастания по высоте

Для работы с более «толстыми» образцами существует возможность добавить к штативу микроскопа механизм ступенчатой системы возрастания по высоте на 35 мм, благодаря чему можно исследовать образцы толщиной до 82 мм.    

Базовый блок для проходящего света

Для диаскопического освещения имеется возможность использования дополнительного базового блока LV DIA, подходящего для применения в сфере деятельности изготовителей комплектного оборудования (OEM - Original Equipment Manufacturers). Подсоединение к источнику питания осуществляется через трансформатор UN2.    

Универсальные эпископические осветители для отраженного света

На выбор в наличии имеются осветители для светлого поля, темного поля, простой поляризации, ДИК и комплексного освещения, требующие эпифлуоресцентного УФ-возбуждения или УФ-поляризации. Освещение осуществляется с помощью лампового блока 12 В/50 Вт с предварительной центровкой, обладающего яркостью, аналогичной предыдущему ламповому блоку 12 В/100 Вт или превосходящей ее.    

Оптика серий CFI LU Plan Fluor и Plan Fluor BD

Кроме длинных рабочих расстояний и высоких числовых апертур, свойственных оптике CFI60 от Nikon, в новых объективах серии CFI LU Plan Fluor была усовершенствована скорость передачи в УФ-диапазоне. Объективы серии CFI LU Plan Fluor BD обладают как улучшенной скоростью передачи в УФ-диапазоне, так и возможностью использования при наблюдениях по методу светлого/темного поля.    

Оптика серии CFI L Plan EPI CR    

Кроме длинных рабочих расстояний и высоких числовых апертур, свойственных оптике CFI60 от Nikon, промышленные микроскопы данной серии отличаются тем, что при использовании объективов 20х и 50х можно осуществлять коррекцию покровного стекла от 0 мм до 1,2 мм, а при использовании объектива 100х – от 0 мм до 0,7 мм или от 0,6 мм до 1,3 мм.  
 

Модульная конструкция    

Модульная конструкция промышленного микроскопа обеспечивает возможность конструирования микроскопа согласно индивидуальным требованиям благодаря наличию большого выбора предметных столиков различных размеров (включая столики, отличные от Nikon), систем эпископического освещения, включая светлое/темное поле и флуоресценцию, оптических характеристик, включая улучшенную скорость передачи в УФ-диапазоне и коррекцию покровного стекла, моторизованных или немоторизованных револьверов объективов, а также бинокулярных, тринокулярных и наклоняемых тринокулярных тубусов.    

Широкий выбор предметных столиков 

Столики 3 х 2 и 6 х 4 поставляются со стеклянной пластиной, что делает их подходящими как для эпископического, так и для диаскопического освещения. Столик 3 х 2 также может быть оснащен пластиной защиты от электростатических разрядов или держателем предметных стекол. Для работы с более крупными образцами в наличии имеется столик 6 х 6. Столик 6 х 6 также может быть оснащен защиты от электростатических разрядов или держателем пластин-заготовок для изготовления микросхем.   
Смежные продукты
image
FT-VISION
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
image
SMZ745T тринокулярный стереомикроскоп
Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.
Nikon
image
SMZ800N стереомикроскоп
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
MA100 инвертированный металлографический микроскоп
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
MA200 инвертированный металлографический микроскоп
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
L200 микроскоп для контроля качества пластин
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.
Nikon
image
L300 микроскоп для контроля качества пластин
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.
Nikon
image
SMZ25/18 новые стереомикроскопы
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Объективы CFI60-2 для промышленных микроскопов CFI60-2
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
image
Контроль качества пайки ПП
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon
image
SMZ1270 стереомикроскоп
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
SMZ1270i стереомикроскоп
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
NeoScope JCM-6000Plus
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
image
Inspectis C12 Цифровой микроскоп высокого разрешения
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
image
Inspectis F30s Цифровой микроскоп для контроля качества изделий в формате Full HD
Видеомикроскоп Inspectis F30s обеспечивает изображения непревзойденного качества, высокой четкости и контраста, с большим увеличением.
Инвертированный металлографический микроскоп MA200 Микроскопы для контроля качества пластин серии L200
Отправить запрос