Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

NDT Неразрушающий контроль

Свернуть Развернуть
Промышленный рентгеновский томограф широкого спектра применения
Nikon
Эксклюзивное нестандартное решение в области компьютерной томографии, позволяющее осуществлять контроль высокотехнологичных изделий на любом этапе производства. Модульное использование основных компонентов системы открывает возможность создания полностью...
Система автоматической инспекции нанесения паяльной пасты.
Marantz
Система PowerSpector S1 SPI предназначена для контроля качества нанесения паяльной пасты на печатные платы. Позволяет также вносить изменения в настройки принтера до того, как дефект распространится по всему изделию. Инновационная технология 5D инспекции...
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
Новый растровый (сканирующий) электронный микроскоп - продукт совместной разработки двух хорошо известных производственных корпораций из Японии, а именно, известнейшего производителя оптических приборов Nikon и флагмана в электронной микроскопии - компании...
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держател...
Nikon
Основные характеристики стереомикроскопа SMZ1270i

Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), микроскоп SMZ1270i отличается еще большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. При минимальном увеличении поле...
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптически...
Nikon
Основные характеристики

Имея лучший в своем классе диапазон трансфокации - 12,7х (0,63х - 8х), стереомикроскоп SMZ1270 отличается еще большим диапазоном увеличения, чем предыдущие модели. При минимальном увеличении поле зрения доходит до 35...
480 000
Цена со скидкой, действительно до 31.12.2019
Товар в наличии на складе
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon

Назначение

Решение предназначено для контроля качества пайки электронных компонентов на печатных платах.

Описание

Основа решения - стереоскопический микроскоп серии SMZ фирмы Nikon (SMZ745T, SMZ800N), в сочетании с наклонно-поворотным столом...
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
КЛЮЧЕВЫЕ ОСОБЕННОСТИ
1. Использование линз Френеля1.
Линзы Френеля изготавливаются с использованием собственных оптических технологий фирмы Nikon. Данные линзы позволили уменьшить хроматические аберрации, которые ухудшают контрастность изображения....
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения ба...
Nikon
SMZ 25 и 18 произвели настоящую революцию в области стереомикроскопии, благодаря уникальному диапазону трансфокации, модульной конструкции, удобству эксплуатации и сверхпроизводительной оптике. Новые модели серии SMZ обладают широким набором функций,...
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соо...
Nikon
В микроскопах для контроля качества пластин серии L300 используется знаменитая оптическая система CFI60 от Nikon, которая обеспечивает высокое разрешение, контраст и коэффициент пропускания. Яркость изображений была значительно улучшена по сравнению ...
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный ми...
Nikon
Самостоятельно или в комбинации с загрузчиком пластин микроскопы серии L200 обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек. 

Выбор из 3-х моделей

...
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclips...
Nikon
Прямые промышленные микроскопы  серии LV150 обеспечивают превосходную производительность при контроле качества полупроводников, плоских панелей, корпусов электронных/оптических устройств, электронных подложек, материалов, медицинских приборов и множества...
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учето...
Nikon
В модели МА200 используется интегрированная система искусственного интеллекта для автоматического комбинирования полученных изображений с данными о настройках наблюдения, что обеспечивает еще более всестороннее документирование. Кроме того, новый кубический...
Отправить запрос