Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Система Внутрисхемного Электрического контроля с летающими пробниками Pilot V8

Seica

Тестовая система Pilot V8 - это новейшая разработка в области тестовых технологий с подвижными пробниками. Это решение для тех, кому необходима максимальная производительность, высокая скорость тестирования, гибкость при создании тестовых программ (опытные образцы или серийное производство), а также локализация дефектов при ремонте изделий любой сложности.

Вертикальная архитектура расположения механизмов и тестируемого изделия является оптимальным решением для одновременного тестирования изделий электроники с двух сторон, позволяющая увеличить скорость и производительность теста, а также точность позиционирования пробников. Это решение является важной технологической инновацией в двустороннем тестировании  подвижными пробниками, в отличие от горизонтальных систем, имеющих конструктивные ограничения. Pilot V8 оснащен 8 электрическими подвижными пробниками (по 4 с каждой стороны), 2 подвижными пробниками Openfix (по 1 с каждой стороны), 2 подвижными пробниками питания (по 1 с каждой стороны), 2 пирометрами (по 1 с каждой стороны) и 2 CCD-камерами (по 1 с каждой стороны), в общей сложности 16 мобильными ресурсами, доступными при тестировании изделия. Летающие силовые пробники являются еще одним важным новшеством, которое позволяет запитывать изделие без каких-либо дополнительных фиксированных кабелей, и обеспечивает реализацию функциональных тестов.

Опции и методы электрического тестирования системы Pilot V8: 

    • FNODE - аналоговый сигнатурный анализ цепей ПП (метод узловых импедансов).
    • Стандартное аналоговое и цифровое внутрисхемное тестирование.
    • Безвекторное тестирование (JSCAN, AUTIC и OPENFIX) для локализации неприпаяных и закороченных выводов микросхем.
    • PWMON позволяет выполнить анализ поведения цепи на платах с поданным питанием для определения ошибок в цифровых узлах, которые обычно не проявляются во время пассивного тестирования (с выключенным питанием).
    • Проверка целостности проводников и изоляции между ними.
    • Оптическая инспекция (проверка наличия компонентов и их ориентации).
    • OBP - внутрисхемное программирование микросхем, установленных на ПП.
    • THS - технология сканирования рабочей температуры компонентов изделия.
    • FLYSCAN - периферийное сканирование с  использованием подвижных пробников.
    • REVERSE ENGINEERING - восстановление принципиальной схемы на образец без исходных данных.
    Все перечисленные опции  и методы могут быть объединены в одной тестовой программе. Важные нововведения, такие как проверка цепей методами FNODE и PWMON, обеспечивают высокий уровень охвата неисправностей и позволяют значительно сэкономить время  электрического внутрисхемного тестирования и программирования. Кроме того, только на тестовых системах Pilot V8 реализована технология параллельного тестирования двух односторонних изделий одновременно.

    Платформа VIP 
    Pilot V8 базируется на платформе Seica VIP, которая включает в себя новейшее программное обеспечение VIVA. Разработка тестовой программы организована  3 простыми шагами ("Подготовка", "Верификация" и "Тест"), в которых пользователь проходит через ряд автоматизированных операций в интуитивно понятном интерфейсе, что значительно сокращает время программирования и минимизирует ошибки  и упущения, обеспечивая качество конечной тестовой программы. В случае специального применения и необходимости подключения дополнительного программного обеспечения или оборудования  максимально открытая архитектура VIP платформы позволяет легко интегрировать внешние модули через RS232, USB порты, GPIB и PXI/VXI-протоколы. 
    Смежные продукты
    image

    Установка  внутрисхемного электрического контроля Pilot V4 - компромисс между производительностью и тестовым покрытием.

    Seica
    image

    Установка внутрисхемного электрического контроля Pilot H4 - это оптимальное решение для тех, кому необходима полная автоматизация процесса тестирования электроники.

    Seica
    Тестовая система с подвижными пробниками PILOT 4D M4
    Отправить запрос