Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Система Внутрисхемного Электрического контроля с летающими пробниками Pilot V8

Seica

Тестовая система Pilot V8 - это новейшая разработка в области тестовых технологий с подвижными пробниками. Это решение для тех, кому необходима максимальная производительность, высокая скорость тестирования, гибкость при создании тестовых программ (опытные образцы или серийное производство), а также локализация дефектов при ремонте изделий любой сложности.

При тестировании печатных плат и электронных модулей время оказывает существенное влияние на эффективность всего процесса тестирования и имеет решающее значение в определении конечной стоимости готового изделия, что на сегодняшний день является наиболее важным в условиях жесткой конкуренции на мировом рынке. Попробуйте учесть время, необходимое для создания тестовой программы, выполнения тестирования, программирования цифровых компонентов и обработки полученных данных, а также время, которое потребуется на ремонт плат в случаях, когда производственный процесс недостаточно контролировался. Прибавьте ко всему этому ограниченные сроки выполнения заказов и длительность производственного цикла, возникающие на фоне стремительной технологической эволюции электронных изделий, и станет очевидно, что время — существенный фактор в данном уравнении. Тестовые системы с летающми пробниками PILOT NEXT›Series предлагают широкий спектр решений для оптимизации временных затрат при сохранении высокого уровня качества выполняемого тестирования.


Тестеры внутрисхемного тестирования Pilot  эффективно применяются в следующих областях:


  • Прототипирование

Используя универсальные аппаратно-программные средства систем  PILOT NEXT›Series, можно получить данные об испытаниях прототипов, избегая при этом материальных и временных затрат на разработку фиксирующих приспособлений или испытательных стендов. Это, в свою очередь, обеспечивает максимальное покрытие дефектов за минимальный промежуток времени.

  • Производство (мелко-крупно серийное)

Применение современных алгоритмов в ПО VIVA позволяет тестерам внутрисхемного тестирования PILOT NEXT›Series обеспечивать высокую скорость и максимальную производительность тестирования изделия. Разнообразие методов тестирования, таких как оптическая инспекция, температурное и периферийное сканирование, а также возможность применения других технологий, например, внутрисхемного программирования цифровых устройств, – всё это позволяет пользователю оптимизировать различные этапы производства и сократить время производственного цикла

  • Ремонт электронных модулей

Существует ряд требований, предъявляемых к диагностике дефектных плат, которые зависят как от характеристик самих плат, так и от конкретных условий ремонта (производственные дефекты, ремонт изделий после возврата, наличие ремонтной базы и т.д.). Тестеры с летающими пробниками PILOT имеют расширенный набор тестовых инструментов, разработанных для локализации дефектов электронных модулей, а гибкость технологии тестирования с подвижными пробниками дает пользователю возможность применять любой из доступных методов контроля для оптимизации самого процесса ремонта и получения наилучших результатов.

  • Обратное проектирование (Реверс Инжиниринг)

  В современной промышленности постоянно возникает необходимость ремонта отозванных изделий, которыми зачастую являются устаревшие платы, не имеющие полного набора исходных данных, принципиальных схем и конструкторской документации. Линейка тестеров  с летающими пробниками PILOT NEXT›Series предлагает решение с двусторонним доступом к тестируемому изделию, что является необходимым условием выполнения обратного проектирования: набор всех необходимых программных средств для восстановления принципиальных схем, данных САПР и другой документации для модулей, находящихся на ремонте, что облегчает процесс локализации и ремонта неисправностей.


PILOT V8  это:

Максимальная точность измерений
  • Полноценный двустронний доступ к тестируемому изделию (по 4 летающих пробника с каждой стороны)
  • Максимальная точность позиционирования пробников (минимальная площадка 30 мкм)
  • Тестирование чип-компонентов размерами 01005 и 008004
  • Подходит для тестирования всех типов плат
  • Максимальная производительность
  • Технология одновременного тестирования двух изделий в одной системе
  • Высокий уровень прослеживаемости результатов тестирования со встроенной функцией распознавания штрих-кодов
  • Готовность к реализации концепции «Индустрия 4.0»: легко осуществлять мониторинг и подключаться к информационным системам в удаленном режиме
  • Автоматическая система загрузки/выгрузки модулей
  • Работа с разными видами загрузчиков
  • Автоматическая загрузка тестовой программы
Смежные продукты
image
Установка  внутрисхемного электрического контроля Pilot V4 - компромисс между производительностью и тестовым покрытием.
Seica
image
Установка внутрисхемного электрического контроля Pilot H4 - это оптимальное решение для тех, кому необходима полная автоматизация процесса тестирования электроники.
Seica
Тестовая система с подвижными пробниками PILOT 4D M4
Отправить запрос