- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Vayo Pro-Gerber является важным инструментом для обработки Gerber-файлов.
В качестве исходных данных для Pick and place систем рекомендуется использовать PnP файлы. Он содержит информацию о наименовании, номинале и координатах компонента. Если эти данные недоступны, оператору линии приходится в ручную указывать центра компонентов...
Vayo Pro-DFM Expert – это инструмент DFM анализа для ускорения процессов разработки и производства э...
На основе проекта печатной платы и спецификации, DFM Expert анализирует все критические места на предмет ошибок, а так же осуществляет моделирование сборки платы в 3D режиме. Решение о наличии проблемных узлов принимается на основе стандартов IPC...
Vayo - Stencil Designer – ПО разработки трафаретов для нанесения паяльной пасты. Упрощает подготовку...
Качество пайки напрямую зависит от качества трафарета. Более 75% всех производственных дефектов закладывается именно на этапе нанесения паяльной пасты. Обеспечить корректный дизайн для каждой площадки, это вызов для производителя РЭА. Отсутствие автоматизированных...
Vayo Pro-SMT Expert - это интеллектуальный инструмент предварительной подготовки программ установки ...
- Поддержка CAD/Gerber таких как Altium, Cadence, Mentor, Zuken, ODB++, …
- Поддержка данных Pick and place (XY data) и Gerber
- Обмен библиотеками компонентов разных систем (Fuji Flexa/Nexim, Panasonic DGS/PT200, ASM SiplacePro, Juki ...
Для производства изделий высокого качества, кроме оборудования выполняющего сборку, контроль и испытания готовой продукции требуется задействовать различные программные средства. В данном разделе представлены программные решения позволяющие разрабатывать изделия (в том числе ВЧ изделия), а затем выполнять предварительную проверку на конструкторские ошибки (согласно стандартов IPC или ГОСТ) и подготовку информации для всех стадий производства и контроля.