Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng
Свернуть Развернуть
Система XT H 225/320 LC для рентгеноскопического и КТ-контроля крупных образцов.
Nikon Metrology
Система XT H 225/320 LC оснащена более мощным микрофокусным источником рентгеновского излучения, который способствует проведению чрезвычайно точного контроля плотных промышленных объектов. Nikon Metrology - единственная компания, которая производит 320...
Отправить запрос