Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng
Свернуть Развернуть
Система XT H 225/320 LC для рентгеноскопического и КТ-контроля крупных образцов.
Nikon Metrology
Система XT H 225/320 LC оснащена более мощным микрофокусным источником рентгеновского излучения, который способствует проведению чрезвычайно точного контроля плотных промышленных объектов. Nikon Metrology - единственная компания, которая производит 320...
Рентгеноскопическая система XT V 160 NF – высокоточная рентгеноскопическая система, предназначенная ...
Nikon Metrology
Рентгеноскопическая система XT V 160 NF - система высокой производительности  предоставляет передовые и инновационные функциональные возможности, способные проверять самые сложные электронные компоненты и сборки. Нанофокусная рентген-трубка с наноразмерным...
Отправить запрос