Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Teradyne

Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) при разработке, производстве и испытаниях изделий электронной техники.

Принцип действия системы J750Ex-HD основан на методах функционального и параметрического контроля.
Для проведения функционального контроля на измеряемую микросхему подается входной набор сигналов, при этом выходной набор сигналов от объекта контроля сравнивается с ожидаемым набором сигналов. Формирование входного набора сигналов производится генератором тестовой последовательности и драйверами универсальных измерительных каналов в соответствии с заранее определенной программой контроля. Выходной набор сигналов от объекта контроля преобразуется измерительными каналами в цифровой код, и производится его сравнение с ожидаемыми данными, с отображением результатов контроля.

В режиме параметрических измерений используется источник-измеритель PPMU на каждом канале. Параметры источника-измерителя PPMU задаются независимо по каждому каналу. Также используется общий источник-измеритель BPMU на цифровом канальном модуле и измерительные источники питания, при этом на объект подается заданное значение постоянного напряжения (силы тока), и измеряется соответствующее значение силы постоянного тока (напряжения).
Методы параметрического и функционального контроля реализуются с помощью программы, создаваемой пользователем для каждого тестируемого объекта. Создание и вызов программы контроля производятся средствами специализированного пакета программного обеспечения, входящего в комплект поставки.

Отличительные особенности:
  • до 1024 (или до 2048 – исполнение на 16 слотов) универсальных каналов
  • до 400 МГц частота тестового вектора
  • до 128Мбит на канал

Области применения:
Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе. 
Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами. 

Опции:
  • Модуль Convert Test Option (CTO) представляет из себя – 8-каналов прецизионных источников тока и измерителей. Каждый канал состоит из источника постоянного напряжения DC, измерителя постоянного тока и двух программируемых эталонов постоянного напряжения.  CTO поставляется как опция и может отсутствовать в конфигурации некоторых системаов. 
  • Модуль Memory Test Option (MTO) дает системау J750Ex-HD возможность тестировать автономные или встроенные запоминающие устройства, а так же  предоставляет аппаратное обеспечение для поддержки возможности регистрации «на лету» ошибок при тестировании памяти.  Поставляется как опция и может отсутствовать в конфигурации некоторых системаов.

Смежные продукты
image
Стенд FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
image
Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
Стенд измерительный для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17MINI-9U Система измерительная для БИС MicroFLEX
Отправить запрос