Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Teradyne

Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).

Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы, формирователи и измерители временных параметров.

Отличительные особенности:
  • до 2240 цифровых каналов
  • до 500 МГц частота тестового вектора
  • до 192 аналоговых каналов

Области применения:
Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе. 
Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами. 

Опции:

Модуль Memory Test Option (MTO): 
  • встроенная программно-аппаратная опция для реализации тестирования микросхем памяти;
  • автоматическая генерация алгоритма проверки (X,Y адрес 16 разрядов, данные – 32 разряда);
  • отслеживание ошибок чтения/записи «на лету»;  
  • частота тестирования до 100 МГц.

Модуль SCAN test:
  • Реализация тестирования микросхем через JTAG интерфейс
  • Объединение нескольких каналов в последовательную цепь с увеличением объёма памяти

Буферированный ввод вывод:
  • Реализации тестирования микросхем АЦП и ЦАП. 
  • Задание цифрового кода (для ЦАП) либо считывание значений (для АЦП) в асинхронном режиме. 
  • Включает в себя 6 независимых 16-ти разрядных сигнальных процессора с памятью до 16 Мбит (256 Мбит памяти на каждый процессор).
  • Возможность объединения процессоров для увеличения разрядности до 32-х

Смежные продукты
image
Стенд FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI-9U предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17MINI предназначен для контроля и измерения электрических характеристик цифровых и цифро-аналоговых микросхем при их производстве и входном контроле.
Sovtest (Россия)
image
Система MicroFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Teradyne
image
Система J750Ex-HD предназначена для функционального и параметрического контроля сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции VLSI (Very-Large-Scale Integration) от микроконтроллеров до интегральных схем специального назначения ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) при разработке, производстве и испытаниях изделий электронной техники.
Teradyne
Стенд измерительные для контроля параметров микроэлектронных компонентов FT-17MINI Система измерительная для БИС MicroFLEX
Отправить запрос