Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Системы JTAG-тестирования

GÖPEL electronic

JTAG-тестирование (или периферийное сканирование) применяется для контроля сложных печатных плат с ограниченным или отсутствующим доступом к электрическим цепям и компонентам, например, в случае с элементами в BGA корпусах.

Область применения

  • Тестирование электронных изделий на производстве
  • Диагностика и ремонт
  • Портативные тестовые системы
  • Внутрисхемное программирование
  • Отладка прототипов

Метод периферийного сканирования позволяет проверить наличие установленных элементов, протестировать правильность прохождения сигналов, локализовать короткие замыкания и «непропаи» на плате, а также осуществить внутрисхемное программирование микросхем памяти, используя четыре тестовые линии и подключение через краевой разъём к тестируемому изделию.

Описание системы периферийного сканирования

Фирма GOEPEL electronic предлагает широкий выбор контроллеров Jtag на основе новой платформы SCANFLEX. Контроллеры могут подключаться как к обычному ПК (интерфейс PCI, USB и др.), так и интегрироваться в существующие PXI/VXI тестовые системы.

Связь с проверяемым изделием осуществляется через TAP (Test Access Path) трансивер, который обеспечивает подключение проверяемого изделия через тестовые порты (TAP), а также управляет необходимым количеством модулей ввода-вывода. Трансивер управляется непосредственно контроллером Периферийного сканирования.

Отправить запрос