Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

SMZ745T тринокулярный стереомикроскоп

Nikon

Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T имеет отличные оптические характеристики при доступной цене.

Высокий коэффициент увеличения 7,5х среди микроскопов своего класса. Тринокулярный стереомикроскоп SMZ-745T прекрасно подходит для получения цифровых изображений как в области промышленности, так и в области неразрушающего контроля изделий электроники и микроэлектроники.Основные характеристики
Коэффициент трансфокации 7,5х и общее увеличение 3,35х – 300х достигнуты путём оптимизации конструкции оптической системы Грену. Использование в модели SMZ-745T новой призмы полного отражения позволяет получать яркие и высококонтрастные изображения при любом увеличении. Подключение камеры и монитора микроскопуКорпус микроскопа оснащен портом для камеры (тринокулярный тип) и встроенным 0,55х адаптером C-mount. Это позволяет устанавливать любую цифровую камеру серии DS от Nikon и упрощает процесс получения цифровых изображений, их регистрации и наблюдения на мониторе.
Помимо высокого коэффициента трансфокации и увеличения тринокулярный стереомикроскоп SMZ745T имеет стандартное рабочее расстоянием 115 мм, которое достаточно для манипуляций с крупными образцами.Стандартное рабочее расстояние 115 ммМодель SMZ-745T имеет защиту от статического электричества. Противогрибковое покрытие внутреннего пространства модуля трансфокатора позволяет использовать микроскоп даже в условиях высокой температуры и влажности.Универсальный настольный штатив для SMZ745TСпецификации
Общий диапазон увеличения 3,35х – 300х, в зависимости от типа используемых окуляров и дополнительного объектива
Коэффициент трансфокации 7.5:1
Диапазон трансфокации 0,67 - 5х
Окуляр C-W 10xB, поле зрения - 22мм, с диоптрийной коррекцией
Угол наклона выходных зрачков 45°
Регулировка межзрачкового расстояния 52 – 75 мм
Соотношение светоделения (правый окуляр) Правый окуляр/фотопорт: 100/0, 0/100
Увеличение фотопорта тринокуляра Встроенная тубусная линза 0,55х с адаптером C-mount
Время стекания электростатического заряда (ESD) менее 0,2 с с 1000 В до 10 В
Защита от грибка и плесени Стандартная
Рабочее расстояние 115 мм
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ПРИНАДЛЕЖНОСТИ
Окуляр (поле зрения, мм) C-W 15x (16), C-W 20x (12.5), C-W 30x (7)
Дополнительные объективы (рабочее расстояние) G-AL 0,5x (211 мм), G-AL 0,7x (150 мм), G-AL 1,5x (61 мм), G-AL 2x (43,5 мм)
Системы освещения Осветитель G-LS 6V10W, осветитель C-DSLS 6V20W, флуоресцентный кольцевой осветитель C-FPS, оптоволоконный кольцевой осветитель C-FIR, оптоволоконный раздвоенный осветитель C-FID, штатив для диаскопического освещения C-DS, гибридный штатив LED с встроенным эпископическим/диаскопическим освещением C-LEDS
Предметные столики Наклоняемый столик C-TRS, с перемещением по двум осям C-SSL
Универсальные штативы Универсальный настольный штатив G-US1/US2, универсальный штатив Р
 
Смежные продукты
image
Новейшая разработка компании «Совтест АТЕ» - система входного контроля FT-VISION.
Sovtest (Россия)
image
Цифровой микроскоп ShuttlePix – работа в переносном режиме.
Nikon
image
Новый стереомикроскоп SMZ800N благодаря усовершенствованной функциональности повышает эффективность работы
Nikon
image
Модель AZ100 Multizoom – это новое слово в создании микроскопов. Модель обладает чрезвычайно большим диапазоном увеличений, от 5x до 400x, эффективно сочетая преимущества простых стереомикроскопов и сложных систем микроскопии.
Nikon
image
MA100 - это новый компактный инвертированный микроскоп для рутинных исследований и анализа материалов и металлургических образцов в автомобильной, аэрокосмической, медицинской и электронной промышленности.
Nikon
image
Eclipse MA200 - это инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией, оптимизированной с учетом требований эргономики и цифрового документирования.
Nikon
image
Передовая оптика, цифровые возможности и модульная конструкция промышленных микроскопов серии Eclipse LV150 обеспечивают беспрецедентный уровень универсальности и гибкости, который позволяет им работать с широким рядом продуктов и задач от проектирования и контроля качества до контроля на производстве.
Nikon
image
В сочетании с передовой оптической системой CFI60 LU/L от Nikon и новой системой освещения данный микроскоп обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения.
Nikon
image
Разработанные для контроля качества 300-мм пластин и фотошаблонов, микроскопы серии Eclipse L300 соответствуют также требованиям, предъявляемым к конечному контролю качества плоских панелей, включая ЖК-панели.
Nikon
image
Новые модели стереомикроскопов SMZ 25 и 18 обладают широким набором функций, начиная от получения базовых стереоскопических изображений непревзойденного качества до выполнения самых передовых наблюдений.
Nikon
image
Серия объективов CFI60-2 для промышленных микроскопов NIKON
Nikon
image
Контроль качества пайки электронных компонентов на печатных платах
Nikon
image
Удобный в работе Стереомикроскоп SMZ1270 с расширенным диапазоном трансфокации и отличными оптическими характеристиками создан для повседневных наблюдений биологических объектов. Он дает возможность как наблюдать мельчайшие структуры, так и работать с широким полем зрения.
Nikon
image
В сочетании с блоком управления камерой DS L3, программой NIS-Elements и "интеллектуальным" держателем объективов P-RN2 получение изображений с стереомикроскопа SMZ1270i стало еще более эффективным - информация об увеличении объектива и о диапазоне трансфокации теперь отображается прямо на мониторе.
Nikon
image
Настольный растровый электронный микроскоп NeoScope JCM-6000Plus.
Nikon
image
Автоматически настраиваемая, компактная и надежная система Inspectis C12 на базе цифровой камеры высокого разрешения разработана для решения следующих задач:
Автоматизированная система входного контроля компонентов FT-VISION Цифровой микроскоп ShuttlePix P-400R
Отправить запрос