- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Перемещение компонентов происходит путем перемещения захватов ( плунжеров) по кругу турели, ...
Конструктивные особенности:
- Перемещение компонентов происходит путем перемещения захватов ( плунжеров) по кругу турели, перекладывая изделие с одного поста на другой. Конфигурация и количество постов турельных сортировщиков настраиваемые,...
Сортировщик Pick and Place для тестирования ЭКБ
Манипуляторы предназначены для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий микроэлектроники при температурах от минус 60 до плюс 155° С и последующей их сортировкой по результатам тестирования.Манипуляторы ...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIP8 , SOP4 и SOP6L с опцией нагрева.
...
...
Гравитационный сортировщик для микросхем в корпусе DIPS,SOP4 и SOP6L с опцией нагрева предназначен для подключения к системам электротестирования с целью контроля параметров изделий и их последующей сортировкой по результатам тестирования. Перемещение...
Мы используем куки для улучшения работы этого сайта
Продолжая просмотр сайта, вы соглашаетесь с политикой обработки персональных данных и cookie-файлов