Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Teradyne

Тестеры микросхем производства компании Teradyne, США предназначены для функционального и параметрического контроля интегральных схем (ИС) различной степени интеграции (от малой до сверхбольшой).

Измерительная часть тестеров микросхем фирмы Teradyne, их гибкость и универсальность предоставляют пользователю все возможности для проведения тестирования сложных микросхем со сверхбольшой степенью интеграции (VLSI), начиная от микроконтроллеров до ASIC (специализированные микросхемы), включая микросхемы памяти, ЦАП, АЦП, а так же смарт-карты, RFID и т.д. Возможность проведения параллельного тестирования позволяет существенно увеличить производительность тестеров при применении их на выходном контроле предприятий – производителей компонентов.Все тестеры Teradyne построены на платформе, позволяющей расширять (наращивать) измерительные возможности тестера и видоизменять его при появлении новых требований пользователя к контролю компонентов.
Основу тестеров микросхем фирмы Teradyne составляет тестовое шасси с установленными измерительными модулями, которое может размещаться или стационарно на поворотном механизме или на манипуляторе, при использовании тестеров микросхем фирмы Teradyne совместно с автоматическими загрузчиками микросхем или пластин. Такая компоновка тестовой системы позволяет разместить измерительную и задающую части непосредственно на самой тестовой головке и избежать применения объединительной платы и длинных кабельных межсоединений и тем самым выполнять тестирование компонентов на высоких частотах. 
Смежные продукты
image
Комплекс измерительный FT-17M предназначен для проведения функционального контроля электронных модулей различного назначения и вариантов исполнения.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17HF-768 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц.
Sovtest (Россия)
image
Стенд FT-17DT-256 предназначен для параметрического, динамического и функционального контроля цифровых и цифро-аналоговых микросхем на частотах до 200 МГц
Sovtest (Россия)
image
Тестер полупроводниковых приборов и компонентов FT-17SC предназначен для задания и контроля электрических режимов полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, оптопар, транзисторов, MOSFET, IGBT, симисторов и др. полупроводниковых приборов) на этапе проведения их испытаний и проведения измерений электрических параметров и характеристик изделий в процессе проведения исследований.
Sovtest (Россия)
image
Многофункциональный тестер реле FT-17R представляет свою новую разработку компании ООО «Совтест АТЕ» , который предназначен для измерения параметров электромагнитных реле постоянного и переменного тока на соответствие технических условий и требований ГОСТ 16121-86. Исполнение тестера реле - 19” стойка рабочим местом оператора.
Sovtest (Россия)
image
Система тепловизионного контроля электронных модулей представляет собой комплекс для контроля и последующего анализа теплового поля тестируемого изделия в инфракрасном диапазоне.
Sovtest (Россия)
Тестер полупроводниковых компонентов FT-17SC
Отправить запрос