- Тестовое оборудование для микроэлектроники и компонентов
- Контроль печатных плат
- Системы автоматической оптической инспекции несмонтированных печатных плат (АОИ+АВИ)
- Внутрисхемное тестирование с летающими пробниками
Свернуть
Развернуть
Тестер Compact SL – это встраиваемая в производственную ли...
Функциональные возможности
- Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов...
Тестер Compact TK – это тестовая система типа "ложе гвоздей...
Функциональные возможности
- Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов...
Тестер TR-17VIP – это тестовая система типа "ложе гвоздей",...
Функциональные возможности
- Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов...
Внутрисхемные тестеры "ложе гвоздей" применяются для внутрисхемного и функционального контроля смонтированных электронных модулей. При этом сопряжение с модулем выполняться с помощью специализированного адаптера «ложе гвоздей», т.е. для каждого типа печатных плат необходим специализированный адаптер. Кроме того, изделие должно иметь дополнительные тестовые точки сопряжения.