Cовременное тестовое оборудование и технологии
Рус Eng

Тестеры "ложе гвоздей"

Свернуть Развернуть
Тестер Compact SL – это встраиваемая в производственную линию тестовая система типа "ложе гвоздей", ...
Seica

Функциональные возможности

  • Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Тестер Compact TK – это тестовая система типа "ложе гвоздей", предназначенная для аналогового и цифр...
Seica

Функциональные возможности

  • Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Тестер TR-17VIP – это тестовая система типа "ложе гвоздей", предназначенная для аналогового и цифров...
Sovtest (Россия)

Функциональные возможности

  • Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов,...
Внутрисхемные тестеры "ложе гвоздей" применяются для внутрисхемного и функционального контроля смонтированных электронных модулей. При этом сопряжение с модулем выполняться с помощью специализированного адаптера «ложе гвоздей», т.е. для каждого типа печатных плат необходим специализированный адаптер. Кроме того, изделие должно иметь дополнительные тестовые точки сопряжения.

Отправить запрос